[其他]一種微分極化電阻測量方法及測試儀無效
| 申請號： | 86105493 | 申請日： | 1986-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN86105493A | 公開（公告）日： | 1988-03-02 |
| 發明（設計）人： | 曹楚南;王友;宋詩哲 | 申請（專利權）人： | 中國科學院金屬腐蝕與防護研究所 |
| 主分類號： | G01N17/00 | 分類號： | G01N17/00;G01N27/00 |
| 代理公司： | 中國科學院沈陽專利事務所 | 代理人： | 李紹光 |
| 地址： | 遼寧省*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | 本發明提供了一種測量腐蝕體系極化電阻的方法，其特征在于對電極進行小幅值線性極化掃描，通過測量腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。本發明還提供了一種實施上述測量方法用的微分極化電阻測試儀。它由(I)線性電位掃描信號電路；(II)恒電位電路；(III)微分電路；(IV)濾波放大電路；(V)微分電流采樣保持電路；(VI)腐蝕電位跟蹤保持電路所組成。本發明所提供的微分極化電阻測量方法和測試儀克服了現行線性極化測量技術的缺點，而且還可以提高測量速度。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 一種 微分 極化 電阻 測量方法 測試儀 | ||
【主權項】：
1、一種測量腐蝕體系極化電阻的方法，其特征在于對電極進行小幅值線性電位極化掃描，通過測量在腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。
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