[其他]低溫等離子體的化學檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 86101111 | 申請日： | 1986-02-24 |
| 公開（公告）號： | CN86101111A | 公開（公告）日： | 1986-09-10 |
| 發(fā)明（設計）人： | 樸東旭;咸文淑;劉靜;陳雪芹;胡元潔;黃玉麗 | 申請（專利權）人： | 北京化學纖維研究所 |
| 主分類號： | G01N31/00 | 分類號： | G01N31/00;G01N35/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 北京市東*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 等離子體空間分布的檢測方法。借助二苯基苦基酰肼與自由基的定量反應測定出在放電反應管內特定部位上被低溫等離子體照射過的固體樣品的表面過氧化基量，由此推斷等離子體空間分布的均勻度。此法首次提出了利用化學反應進行等離子體診斷的方法，同傳統(tǒng)的物理法診斷技術相比，簡便、實用，可以將檢測數(shù)據(jù)與等離子體化學反應的最終結果建立聯(lián)系。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 低溫 等離子體 化學 檢測 方法 | ||
【主權項】：
1、一種等離子體空間分布的檢測方法，其特征是，將固體樣品以特定方式放在放電反應器的空間之中，進行放電，使固體樣品受到等離子體的作用，然后借助化學定量反應測定固體樣品表面的化學基團。
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