[其他]不需校正的顆粒分析計(jì)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85205497 | 申請(qǐng)日: | 1985-11-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN85205497U | 公開(kāi)(公告)日: | 1986-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚長(zhǎng)華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 姚長(zhǎng)華 |
| 主分類號(hào): | G01N15/04 | 分類號(hào): | G01N15/04;G01N9/14 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 本實(shí)用新型提供了一種不需校正的顆粒分析計(jì)裝置。它是由最小刻度值為0.5(甲種)或最小刻度值為0.2(乙種)并在分度表上標(biāo)有土粒有效沉降距離,構(gòu)成雙刻度的比重計(jì)與固定直徑的專用量簡(jiǎn)配套組合成的。使用時(shí)不需刻度修正值,并能直接讀得土粒有效沉降距離。有內(nèi)附溫度計(jì)的比重計(jì)還能同時(shí)指示溫度和溫度補(bǔ)正值。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 校正 顆粒 分析 | ||
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