[其他]輸出同系統電路參數變化無關的微波輻射計無效

申請號：	85108562	申請日：	1985-10-31
公開（公告）號：	CN85108562A	公開（公告）日：	1987-05-06
發明（設計）人：	袁慶琳	申請（專利權）人：	袁慶琳
主分類號：	G01R29/08	分類號：	G01R29/08
代理公司：	中國科學院上海專利事務所	代理人：	雷延華,謝晉光
地址：	上海市武寧***	國省代碼：	上海;31
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摘要：	本發明提供了一種檢測物體輻射電磁能量的微波輻射計。它在低頻電路系統中設置了三只低頻電子開關、積分網絡和定時控制系統。三只低頻電子開關和輸入端口的二只高頻電子開關一起受定時控制系統控制，按特定的時序動作，使微波輻射計的輸出信號同系統高頻、中頻和低頻電路參數變化無關。本發明適用于多種波段各種工作平臺，尤其要求檢測結果精確和穩定的使用場合。并能方便地進行自校。
搜索關鍵詞：	輸出系統電路參數變化無關微波輻射計
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【主權項】：

1、一種用于檢測物體輻射電磁能量的微測輻射計，包括天線[1]、高頻鎖式開關[2]、[3]、參考輻射源[4]、[5]、高、中頻信號處理電路[6]、平方律檢波器[8]、低頻放大器[9]、同步解調網絡[10]、直流放大器[15]、比較電路[17]和基準電壓源[18]，其特征在于系統內設置低頻電子開關[11]、[14]、[16]、積分網絡[12]、[13]和定時控制系統[7]。

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