[其他]接觸信號測頭無效
| 申請號： | 85107033 | 申請日： | 1985-09-21 |
| 公開（公告）號： | CN85107033A | 公開（公告）日： | 1987-04-01 |
| 發明（設計）人： | 福吉稔;古頭隆;中村哲夫 | 申請（專利權）人： | 株式會社三豐制作所 |
| 主分類號： | G01D5/20 | 分類號： | G01D5/20;G01B7/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 李毅,孫蜀宗 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一個接觸信號測頭，接觸探針基座由固定在測頭外殼內的支座活動支撐，Z軸活動支撐機構將接觸探針安裝在接觸探針基座上。Z軸支撐機構包括固定在探針基座上下端的膜片、與膜片中部緊固的一根支撐軸，探針固定在支撐軸下端。當接觸探針接觸工件的外表面時，探針基座和Z軸支撐機構能支撐接觸探針相對于測頭作三維自由運動。這套裝置有一個電接觸信號檢測器，它包括許多能產生出電接觸信號的磁心和檢測線圈。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 接觸 信號 | ||
【主權項】：
1、一個電測接觸探針與工件接觸的接觸信號測頭，包括一個測頭外殼和一個接觸探針基座，基座定位于該測頭外殼內，并能在多方向上移動。有單一的停頓位置，該基座夾持該接觸探針，該測頭的特征在于測頭包括分別安裝在該接觸探針基座上部和下部的上膜片和下膜片，膜片支撐著接觸探針套體，裝有接觸探針的套體相對于接觸探針基座是可以移動的，在測頭內有許多對安裝在該接觸探針套體上的磁心和分別與這些磁心相對的另外許多對安裝在接觸探針基座上的檢測線圈，因此，通過磁心對和檢測線圈對的相互作用，可以電測該接觸探針在多個方向上的位移。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社三豐制作所，未經株式會社三豐制作所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/patent/85107033/，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：氨的合成工藝過程
- 下一篇：從方鉛礦中直接提取鉛的方法及設備
