[其他]散射光型煙火探測器的測試裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85106604 | 申請(qǐng)日: | 1985-09-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN85106604A | 公開(公告)日: | 1987-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 長島哲也 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 報(bào)知機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/53 | 分類號(hào): | G01N21/53 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利代理部 | 代理人: | 王潔 |
| 地址: | 日本東京都品川*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 盡管常規(guī)的測試裝置采用了高定向的光束,本發(fā)明的測試裝置卻采用了無方向性的散射光,以便即使露珠等物造成漫反射或折射時(shí),光電探測量仍保持恒定,同時(shí)可容許大的裝配偏差。本發(fā)明的測試裝置是這樣構(gòu)成的具有發(fā)射漫射光的漫射光發(fā)射裝置的第二發(fā)光部件置于光電探測部件的光電探測區(qū)內(nèi),而光電探測部件置于來自第一發(fā)光部件的光不能直接進(jìn)入的位置,運(yùn)行測試是通過使來自第二發(fā)光部件的光直接進(jìn)入光電探測部件而實(shí)現(xiàn)的。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 散射 煙火 探測器 測試 裝置 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于報(bào)知機(jī)株式會(huì)社,未經(jīng)報(bào)知機(jī)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/patent/85106604/,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:信息記錄介質(zhì)盤及其制備方法
- 下一篇:有觸點(diǎn)電器
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





