[其他]散射光型煙火探測(cè)器的測(cè)試裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85106604 | 申請(qǐng)日： | 1985-09-02 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN85106604A | 公開（公告）日： | 1987-03-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 長(zhǎng)島哲也 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 報(bào)知機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/53 | 分類號(hào)： | G01N21/53 |
| 代理公司： | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利代理部 | 代理人： | 王潔 |
| 地址： | 日本東京都品川*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 盡管常規(guī)的測(cè)試裝置采用了高定向的光束，本發(fā)明的測(cè)試裝置卻采用了無(wú)方向性的散射光，以便即使露珠等物造成漫反射或折射時(shí)，光電探測(cè)量仍保持恒定，同時(shí)可容許大的裝配偏差。本發(fā)明的測(cè)試裝置是這樣構(gòu)成的具有發(fā)射漫射光的漫射光發(fā)射裝置的第二發(fā)光部件置于光電探測(cè)部件的光電探測(cè)區(qū)內(nèi)，而光電探測(cè)部件置于來自第一發(fā)光部件的光不能直接進(jìn)入的位置，運(yùn)行測(cè)試是通過使來自第二發(fā)光部件的光直接進(jìn)入光電探測(cè)部件而實(shí)現(xiàn)的。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 散射 煙火 探測(cè)器 測(cè)試 裝置 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
一種散射光型煙火探測(cè)器的測(cè)試裝置，其中，光電探測(cè)部件置于來自第一發(fā)光部件的光不能直接進(jìn)入的位置，第二發(fā)光部件置于光電探測(cè)部件的光電探測(cè)區(qū)內(nèi)，以便來自第二發(fā)光部件的光能直接進(jìn)入進(jìn)行運(yùn)行測(cè)試的光電探測(cè)部件內(nèi)，該測(cè)試裝置的特征在于：所述第二發(fā)光部件包括一個(gè)發(fā)射漫射光的漫射光發(fā)射裝置。
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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