[其他]絕緣層上多晶硅的激光加熱再結晶方法無效
| 申請號: | 85103942 | 申請日: | 1985-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN85103942B | 公開(公告)日: | 1988-03-16 |
| 發明(設計)人: | 林成魯;鄒世昌;沈宗雍 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海冶金所 |
| 主分類號: | H01L21/268 | 分類號: | H01L21/268;H01L21/428 |
| 代理公司: | 中國科學院上海專利事務所 | 代理人: | 季良赳 |
| 地址: | 上海市長寧*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 本發明是一種制備SOI材料的激光加熱再結晶方法,屬于半導體器件及集成電路的制造工藝。本發明采用激光加熱方法使兩層SiO2中間的多晶Si再結晶,從而得到良好表面質量的SiO材料,可供制造器件和集成電路。本方法與常規的集成電路工藝相容,工藝簡單,而且提高了激光能量的利用率。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 絕緣 多晶 激光 加熱 再結晶 方法 | ||
【主權項】:
1.一種激光加熱再結晶制備SOI材料的方法,它使用連續氬離子激光束掃描加熱位于SiO2夾層中的多晶硅使之再結晶,其特征在于:在激光加熱之前形成單晶硅—熱氧化SiO2——多晶硅——化學氣相淀積SiO2夾層結構,其中熱氧化SiO2,多晶硅及化學氣相淀積SiO2層的厚度分別為:0.1~1μm,0.5~0.8μm及0.5~1.5μm。
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海冶金所,未經中國科學院上海冶金所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/patent/85103942/,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:安全吸煙器
- 下一篇:丙烯共聚物的生產方法
- 同類專利
- 專利分類
H01 基本電氣元件
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





