[其他]利用全息共軛像測量物體表面位移的方法無效
| 申請號： | 85103210 | 申請日： | 1985-04-24 |
| 公開（公告）號： | CN85103210A | 公開（公告）日： | 1986-07-02 |
| 發明（設計）人： | 于乃旬 | 申請（專利權）人： | 西安交通大學 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 西安交通大學專利事務所 | 代理人： | 于乃旬,嚴暉 |
| 地址： | 陜西省*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | 利用全息共軛像測量物體表面位移的方法屬于力學測量中光測技術中的全息干涉術，按照國際專利分類法屬于G02b類。本發明的關鍵是根據共軛觀察點理論，利用共軛像中的信息，通過從某一觀察點對共軛像的觀察可以間接地獲得從其共軛觀察點對原始像的“觀察”結果，但從該共軛觀察點直接對原始像進行觀察是不可能的，這樣便擴大了信息來源，從而提高測量精度。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 利用 全息 共軛 測量 物體 表面 位移 方法 | ||
【主權項】：
1、一種測量物體表面位移的全息方法，對于一個發生位移的物體表面進行全息照相，獲得測量用的全息圖后，根據再現像上的條紋圖樣就能算出物體表面上各點的位移；本方法的特征是不僅利用原始像而且還利用共軛像中的信息以提高測量精度。
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