[其他]一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊及其制造方法無效
| 申請號： | 85102013 | 申請日： | 1985-07-03 |
| 公開（公告）號： | CN85102013B | 公開（公告）日： | 1988-04-20 |
| 發明（設計）人： | 宋俊峰 | 申請（專利權）人： | 宋俊峰 |
| 主分類號： | G01B5/28 | 分類號： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 北京市科學技術研究院專利事務所 | 代理人： | 郭佩蘭,谷勝斌 |
| 地址： | 北京市106*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊及其制造方法，現有的校準樣塊無法標出輪廓的起點，只能校驗觸針式量儀的Ra值(0.15μm～1.5μm)。本發明采用研磨工藝，在光滑參考基準平面的中部分段加工出具有單向隨機輪廓的測量區域。利用光滑參考基準平面和測量區域的交線來標出單向隨機輪廓的起點，Ra值可達0.015μm～1.5μm。除可用于校驗觸針式量儀的Ra值外，還可對各種粗糙度量儀、測試方法的測量參數和輪廓圖形進行標定和比對。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 一種 隨機 輪廓 表面 粗糙 校準 及其 制造 方法 | ||
【主權項】：
1、一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊，它是帶有一個工作表面的長方形六面體塊，其工作表面中部的測量區域由若干呈周期性重復的單向隨機輪廓的表面組成，其特征是測量區域（2）的兩側或/和中間有一個以上的光滑參考基準平面（1），上述的測量區域（2）和光滑參考基準平面（1）之間的交界線對應單向隨機輪廓的起點。
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