[其他]開環(或半閉環)系統精度校正裝置在審
| 申請號： | 85100125 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100125A | 公開（公告）日： | 1986-07-30 |
| 發明（設計）人： | 韓至駿;梅建南 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G05D3/18 | 分類號： | G05D3/18 |
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 付尚新 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一種開環(或半閉環)系統精度校正裝置。可在不改變原系統控制邏輯電路的情況下，獲得與測量元件分辨率同量級的精度。若與滾動光柵量測元件配合使用，誤差將不因行程增加而積累。因此在大型機床上應用效果特別顯著。本裝置具有自動換向控制邏輯電路，可模擬原系統動態特性的模擬環節。數字脈沖比較環節，由進給指令自動產生校正脈沖的補扣環節以及專供開環系統高速運行時實現誤差動態校正而不丟步的校正脈沖延時計數器。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 開環 閉環 系統 精度 校正 裝置 | ||
【主權項】：
1、一種開環(或半閉環)系統精度校正裝置，由實際位移量測環節，誤差模擬環節、校正脈沖產生環節、誤差比較環節、以及校正環節所組成。其特征在于：(1)帶有不依賴原系統的簡單方向控制電路的模擬環節[Ⅰ]。(2)保證步進電機在高速運行時進行動態精度校正而不丟步的校正脈沖延時計數器[Ⅴ]。(3)由進給指令自動產生校正脈沖的補扣環節[Ⅲ]代替了一般校正脈沖產生環節和專設的校正環節。
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