[其他]用表面線圈探測的核磁共振儀在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 101985000002139 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN1004171B | 公開（公告）日： | 1989-05-10 |
| 發(fā)明（設計）人： | 波斯坎帕;凱梅爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 菲利浦光燈制造公司 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 葉凱東 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 為提高核磁共振儀的測量精度，備有一個或幾個表面線圈（１３）作測量線圈，為避免高頻激勵線圈（１０）與測量線圈間的互相干擾在激勵線圈（１０）工作時，用一祛耦回路（３６）裝備一測量線圈把線圈１３調(diào)至更高的自然頻率，另一方面當用表面線圈（１３）探測時，將激勵線圈（１０）通過低電阻短路回路（７２）短路，由此避免對高頻測量訊號的干擾。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 表面 線圈 探測 核磁共振 | ||
【主權(quán)項】：
暫無信息
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