[其他]核磁共振斷層分析儀在審
| 申請號： | 101985000001661 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85101661B | 公開（公告）日： | 1988-11-30 |
| 發明（設計）人： | 孔茲·迪特馬 | 申請（專利權）人： | 菲利浦光燈制造公司 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 葉凱東 |
| 地址： | 荷蘭艾恩德霍芬BA*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 本發明是關于一種磁共振斷層分析的儀器，包括有三個線圈組，以產生一個與穩定均勻主磁場方向平行的磁場，此磁場是空間位置的函數，呈線性變化。此外，還有至少一個附加線圈組，它產生一個也與均勻磁場方向平行，但隨空間位置呈線性變化的磁場。這些線圈組得到的總是一個滿足下述要求的電流，即使這些線圈組產生的磁場與穩定磁場疊加，產生所預期的磁通密度隨時間和空間的變化。因而可借助附加線圈組來降低渦流或其它誤差造成的影響。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 核磁共振 斷層 分析 | ||
【主權項】：
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