[其他]光調制自動光測彈性應力的方法和裝置在審
| 申請號： | 101985000000284 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100284B | 公開（公告）日： | 1985-09-10 |
| 發明（設計）人： | 張遠鵬;王楚;張合義;朱美棟;施來榮;陸燕仲;武潤璽;柴玉明 | 申請（專利權）人： | 北京大學 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 北京大學專利代理事務所 | 代理人： | 俞達成 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 光調制自動光測彈性應力的方法和裝置，屬于光測彈性應力技術領域。采用非單色光源以便于作雙波長測量，達到可測任意條紋級數值的目的。采用電光調制器以利用其電致雙折射特性實現補償消光。在被測模型前后加有一對旋光器以便得到被測模型相對于正交偏振光場的轉動效應。測量過程在微處理機控制下自動進行，測量結果以電信號送微處理機作數據自動處理。本發明提高了光測彈性應力的自動化程度，縮短了測量周期，提高了測量精度。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 調制 自動 彈性 應力 方法 裝置 | ||
【主權項】：
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