[其他]測量高溫下材料力學性能的光學裝置在審
| 申請號： | 101985000000056 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100056B | 公開（公告）日： | 1988-03-09 |
| 發明（設計）人： | 金觀昌;章偉寶;董良金 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 張秀珍 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 測量高溫下材料力學性能的光學方法及裝置，屬光學方法測量材料力學性能的領域。本發明是在一個有石英玻璃窗口的高溫加熱爐中，安放一個耐高溫的純彎加載裝置，把被測材料以板試件形式放入純彎加載裝置的二刀口間。在全息照相兩次曝光間，加以適當彎矩，用象平面全息照相光路拍攝全息圖，獲得板的撓度分布。并用最小二乘法處理求出彈性模量和泊桑比．本發明是在２０℃～１０００℃溫度下，非接觸測量方式。方法簡單，精度高，試件尺寸小，節省原材料。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測量 高溫 材料 力學性能 光學 裝置 | ||
【主權項】：
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