[發(fā)明專利]用于X射線斷層攝影裝置的檢測器

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 97119132.8
• 申請日: 1997-10-14
• 公開（公告）號: CN1094200C
• 公開（公告）日: 2002-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 和田干生;戶波寬道;大井淳一
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202;G01T1/20;G03B42/02
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 劉曉峰,朱進(jìn)桂

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及與X-射線CT裝置等X-射線斷層攝影裝置一起使用的檢測器。

背景技術(shù)

正如圖4中的實(shí)例所示，X-射線CT裝置包含一個X-射線管31、一個準(zhǔn)直儀34和一個輻射探測器35，這樣的話，從X-射線管31發(fā)出的扇形X-射線束32通過靶體33后被檢測，且在通過準(zhǔn)直儀34后，用由很多排成一列的探測元件所組成的輻射探測器35進(jìn)行檢測。更具體地說，輻射探測器35可以為固體輻射探測器，其由用于將輻射轉(zhuǎn)換為光的閃爍器和用于將光轉(zhuǎn)換為電信號的光電轉(zhuǎn)換器件在某一方向上組合排列形成。8到30個閃爍器和光電轉(zhuǎn)換器的組合排列形成一個單元，而輻射探測器35由幾個這樣的探測器單元36構(gòu)成，這樣單元36作為多邊形的一部分被連續(xù)放置在圓的周邊。

如圖5中所示，輻射探測器35的每個單元具有很多在通道方向上(用雙箭頭表示)排列的輻射探測元件，相互用隔離片45隔開，而每個輻射探測元件包含一個長條形的閃爍器件41和一個諸如光電二極管的光電元件43，其與閃爍器件41的寬度相同，并被粘到閃爍器件41的底面上，置于支撐件44之上。

當(dāng)從X射線管31發(fā)出的扇形X射線束32到達(dá)此輻射探測器時，X射線被閃爍器41轉(zhuǎn)換為光，然后此光被光電轉(zhuǎn)換器件43轉(zhuǎn)換為電信號，這樣的話可以在通道方向和切片方向(在圖5中用另一個雙箭頭表示)上都獲得數(shù)據(jù)。在這些數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上來形成圖像。

然而，對于當(dāng)前的X-射線CT裝置，X射線管的區(qū)域很大，這使得聚焦點(diǎn)的位移對應(yīng)于溫度的變化也變得很大。如果聚焦位置在通道方向上移動，由于在此方向上設(shè)置了很多的輻射探測元件，從而根據(jù)上面所述的現(xiàn)有技術(shù)，其影響可被忽略。如果是在切片方向上移動，例如在圖5中從聚焦位置A到聚焦位置B，則對于閃爍器件的光接收位置會從中心部分向邊緣部分變化，這即影響了探測信號的靈敏度。

如圖6中所示，探測元件的靈敏度曲線在靠近中心處平滑，而當(dāng)其在切片方向上移動并到達(dá)邊緣位置時其不再平滑而是下降。因此，如果每個閃爍器件的光接收位置從中心向邊緣位置移動，探測信號的靈敏度受到嚴(yán)重的影響從而被輸出的信號不再準(zhǔn)確。這就是產(chǎn)生虛像和假像的原因。

特別是當(dāng)獲得厚切片的數(shù)據(jù)時，在切片方向上探測元件的中心和邊緣部分之間靈敏度的差別會更大，由于每個閃爍器件必須是在切片方向上從一個端部到其相對的端部這樣使用的，從而很容易出現(xiàn)虛像和假像。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明是針對如上所述的問題來完成的，其目的是提供一種用于X-射線斷層攝影裝置的改進(jìn)了的探測器，通過它可以使探測元件在切片方向上的中心和邊緣位置間的靈敏度的差別被減至最小，從而在切片方向上不會出現(xiàn)虛像和假像。

對于體現(xiàn)本發(fā)明的用于X-射線斷層攝影裝置的探測器，通過它可以實(shí)現(xiàn)以上的及其它的目的，其特征不僅在于在與切片方向橫切的通道方向上在靠近X射線入射位置處成列設(shè)置多個探測元件，而且其中每個探測元件包含一個用于將入射輻射束轉(zhuǎn)換為光的磷光元件以及用于將來自磷光元件的光轉(zhuǎn)換為電信號的光電轉(zhuǎn)換元件，而且其中磷光元件在切片方向上比光電轉(zhuǎn)換元件的敏感區(qū)短。

對于這樣制成的光電轉(zhuǎn)換元件，由于其比磷光元件長并覆蓋住磷光元件，甚至還延伸到外部區(qū)域，從而在切片方向上的敏感區(qū)內(nèi)可以可靠地檢測到由邊緣區(qū)域產(chǎn)生或到達(dá)該處的光。其結(jié)果，在切片方向上的均勻性得到了提高，并且防止了虛像和假像的出現(xiàn)。

附圖說明

所附的附圖，其作為本發(fā)明的一部分并與本發(fā)明相結(jié)合，對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行闡述，并與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。其中：

圖1為本發(fā)明的用于X-射線斷層攝影裝置的探測器在切片方向上的截面圖；

圖2為顯示本發(fā)明的探測器的靈敏度的示意圖；

圖3為本發(fā)明的另一個用于X-射線斷層攝影裝置的探測器的截面圖；

圖4為示出現(xiàn)有技術(shù)X-射線CT裝置的一般結(jié)構(gòu)的示意圖；

圖5為用于X-射線斷層攝影裝置的現(xiàn)有技術(shù)的探測器的斷面圖；

圖6為用于X-射線斷層攝影裝置的現(xiàn)有技術(shù)探測器的靈敏度的示意圖。

具體實(shí)施方式

至此，對于類似的元件用相同的數(shù)碼表示，即使它們?yōu)椴煌b置上的部件，且因此這里省去了重復(fù)的描述。