[發明專利]用于X射線斷層攝影裝置的檢測器

無效

• 申請號: 97119132.8
• 申請日: 1997-10-14
• 公開（公告）號: CN1094200C
• 公開（公告）日: 2002-11-13
• 發明（設計）人: 和田干生;戶波寬道;大井淳一
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202;G01T1/20;G03B42/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 劉曉峰,朱進桂

1.一種用于X-射線斷層攝影裝置的探測器，用來獲得靶體在切片方向上的切片數據，其特征在于所述的探測器包含多個探測元件，它們在與所述切片方向橫向的通道方向上成列設置在X射線入射位置的附近，每個探測元件包含一個用于將入射輻射來轉換為光的磷光元件和一個用于將來自所述磷光元件的光轉換為電信號的光電轉換元件，所述光電轉換元件具有一個敏感區，所述的磷光元件在所述切片方向上比所述光電轉換元件的敏感區的長度要短。

2.根據權利要求1所述的探測器，其特征在于所述每個探測元件在所述磷光元件和所述光電轉換元件之間還包含一個纖維光學片。

3.根據權利要求2所述的探測器，其特征在于所述纖維光學片在所述切片方向上比所述光電轉換元件要長。

4.根據權利要求1所述的探測器，其特征在于所述磷光元件為閃爍器。

5.根據權利要求1所述的探測器，其特征在于所述光電轉換元件為光電二極管。