[實(shí)用新型]通用集成電路編程及測(cè)試儀

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 93217815.4
• 申請(qǐng)日: 1993-07-03
• 公開（公告）號(hào): CN2169161Y
• 公開（公告）日: 1994-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 柳旭;彭勝祥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F15/20
• 分類號(hào): G06F15/20;G01R31/00
• 代理公司: 廈門大學(xué)專利事務(wù)所
• 代理人: 馬應(yīng)森

本實(shí)用新型涉及一種集成電路電性能的測(cè)試裝置。

IC測(cè)試儀與編程器主要適用各種邏輯器件、可編程器及存貯器等的測(cè)試與編程。

《一種智能數(shù)字集成電路測(cè)試儀》（史燕，范俊波。電測(cè)與儀表，1990.2：17～18）介紹了一種采用單片微型計(jì)算機(jī)的智能數(shù)字集成電路測(cè)試儀的系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)及軟件設(shè)計(jì)，由MCS－51系列的8位單片機(jī)8031、程序存儲(chǔ)器、顯示電路、鍵盤及測(cè)試插座等組成。其監(jiān)控程序、處理程序及數(shù)據(jù)庫(kù)都固化在8K×8的EPROM（2764）中，少量的數(shù)據(jù)交換在8031片內(nèi)進(jìn)行。

《一種簡(jiǎn)易大容量DRAM測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)》（徐秀蘭。計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展，1990，5：62～66）介紹了一種簡(jiǎn)易大容量DRAM測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法，它為以TP－801單板機(jī)為主機(jī)組成的雙機(jī)系統(tǒng)，包括專用測(cè)試從處理機(jī)、兩處理機(jī)的共享存儲(chǔ)器。

CN2080678U號(hào)專利申請(qǐng)公開了一種簡(jiǎn)易數(shù)字集成電路測(cè)試器，包括一組電平檢測(cè)和電平輸入電路、脈沖測(cè)試器電路、脈沖發(fā)生器電路、電源電路和操作顯示面板以及一套附件。在操作面板上有兩排顯示燈、兩排電平開關(guān)、兩排集成電路腳測(cè)試孔、至少一個(gè)集成電路插座、兩個(gè)電阻分壓器和一組七段數(shù)碼顯示組件等。

CN2062852U號(hào)專利申請(qǐng)公開了另一種通用集成電路測(cè)試儀，采用運(yùn)算放大器組成運(yùn)算判斷和閾值調(diào)節(jié)電路。

已有的通用集成電路測(cè)試儀與編程器主要是適用于各種邏輯器件、可編程器和存貯器等的測(cè)試與編程，它們是作為高檔電子輔助工具而出現(xiàn)在重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室和研究院，其價(jià)格昂貴，一般工程人員望塵莫及，而且其結(jié)構(gòu)大多比較封裝，功能比較專一，對(duì)新出現(xiàn)的眾多新型器件，無論是編程還是測(cè)試都是極為困難的，這是由其硬件結(jié)構(gòu)所決定的。

然而高檔微型機(jī)的廣泛應(yīng)用給上述問題帶來生機(jī)，現(xiàn)有的邏輯分析儀、在線測(cè)試儀、在線仿真器、圖象處理器等現(xiàn)代儀器就是大多在通用高檔微機(jī)基礎(chǔ)上，通過增加結(jié)構(gòu)化模塊來完成特定功能的。

本實(shí)用新型的目的在于提供一種能對(duì)通用集成電路芯片進(jìn)行查尋、測(cè)試，又能對(duì)存貯器、單片機(jī)、可編程邏輯器件進(jìn)行編程／校驗(yàn)，具有結(jié)構(gòu)緊湊、功能強(qiáng)、性能價(jià)格比高等特點(diǎn)的通用集成電路編程及測(cè)試儀。

實(shí)現(xiàn)上述目的的設(shè)計(jì)方法有兩種，其一是根據(jù)不同的器件類型設(shè)計(jì)相應(yīng)的硬件與軟件。這種方法設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，技術(shù)上易于實(shí)現(xiàn)，但隨著器件類型增多，硬件設(shè)計(jì)也隨之變化，總投資較大，一般的用戶難以接受。其二是硬件環(huán)境為通用型而根據(jù)不同的器件類型設(shè)計(jì)相應(yīng)的軟件。這種方法的硬件、軟件設(shè)計(jì)都很復(fù)雜，但功能較全，通用性較強(qiáng)。本實(shí)用新型采用上述第2種技術(shù)方案，考慮到測(cè)試與編程的器件管腳絕大多數(shù)都不會(huì)超過40腳，故選用了編程／測(cè)試功能合二為一的40腳插座。

本實(shí)用新型包括系統(tǒng)總線適配電路、CPU控制電路、編程電壓與編程脈沖產(chǎn)生電路、測(cè)試輸入電路、編程／測(cè)試輸出驅(qū)動(dòng)與保護(hù)電路以及測(cè)試插座。

系統(tǒng)總線適配電路選用八總線傳送接收器收發(fā)、驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)總線；三態(tài)輸出的八緩沖器和線驅(qū)動(dòng)器接地址總線和控制總線；其地址譯碼采用三選八譯碼器；I／O地址為280H～29FH。

選用單片機(jī)作為CPU，微機(jī)的地址總線接74LS138譯碼器，譯碼器的片選信號(hào)輸出端接CPU及輸入輸出接口芯片；微機(jī)的控制總線經(jīng)74LS245的控制信號(hào)輸出端接CPU及輸入輸出接口芯片；微機(jī)的數(shù)據(jù)總線經(jīng)74LS244接CPU的數(shù)據(jù)線，同時(shí)經(jīng)可編程管理接儀器內(nèi)部總線，CPU數(shù)據(jù)輸出端接編程／測(cè)試輸出電路，再經(jīng)保護(hù)電路接測(cè)試插座上的被編程／測(cè)試芯片。

測(cè)試輸入電路的輸入端與測(cè)試插座上的被編程／測(cè)試芯片連接，測(cè)試輸入電路的輸出經(jīng)內(nèi)部總線接CPU。

編程電壓與編程脈沖產(chǎn)生電路接CPU可編程控制端，而其輸出接測(cè)試插座上的被編程／測(cè)試芯片。

CPU控制電路要完成CPU與待測(cè)芯片間的輸入／輸出操作，獲得實(shí)測(cè)真值表；要自動(dòng)切換不同引腳數(shù)目、電源處于對(duì)角位置及電源處于中間位置的芯片的電源輸入端；各類器件編程方式、編程電壓的寫入等功能。

由于系統(tǒng)的測(cè)試／編程的芯片范圍較廣，對(duì)編程電壓／脈沖的要求較高，CPU控制3個(gè)8位D／A轉(zhuǎn)換器（例如DAC08），編程電壓及其加載是可控制的。

編程／測(cè)試輸出驅(qū)動(dòng)、保護(hù)電路實(shí)現(xiàn)對(duì)被編程／測(cè)試器件的數(shù)據(jù)寫入，并行可編程接口芯片的功能組態(tài)由系統(tǒng)軟件經(jīng)過編程確定之后，通過4組×8位端口輸出。

以下對(duì)本實(shí)用新型的測(cè)試原理、可編程邏輯器件的編程／檢驗(yàn)以及EPROM編程原理作一說明。

1、測(cè)試原理