[發明專利]數據實時校驗方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202310467506.2
• 申請日: 2023-04-27
• 公開（公告）號: CN116225774B
• 公開（公告）日: 2023-08-15
• 發明（設計）人: 黃巖;張洋;吳紅偉
• 申請（專利權）人: 云和恩墨（北京）信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;G06F9/448
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 孫浩

本申請實施例公開了數據實時校驗方法、裝置、電子設備及存儲介質，涉及計算機技術領域。首先將請求操作空間進行扇區級別的劃分，并為每個扇區配置狀態機，通過設置多個校驗點并在內存空間中對應存儲各個扇區的工作狀態與數據校驗和等狀態數據，當響應于讀寫請求時，對應更新校驗點的內存空間中的狀態數據，并且當扇區的工作狀態處于預設狀態時，才進行數據校驗。由此可以有效解決并發讀寫請求導致的數據誤報的問題，而且設置多個校驗點可以實時校驗數據，并在數據錯誤時快速定位對應的功能模塊，保證了數據的準確性和完整性。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別是涉及一種數據實時校驗方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

數據校驗有利于保證數據的準確性和完整性，避免數據損壞或丟失，提高數據的安全性和可靠性，因此在數據傳輸和存儲過程中，數據校驗具有重要意義。相關技術中，通過同時傳輸I/O請求的數據與校驗和，在各個環節對I/O請求的數據與校驗和進行對比以完成數據校驗，從而保證I/O請求傳輸過程中數據的準確性和完整性。

然而，相關技術的數據校驗方法依然存在一些局限，例如無法解決存儲系統中由于讀寫請求并發導致的數據誤報問題，或者無法快速定位引發數據錯誤的模塊等，因此無法完全保證數據的準確性和完整性，存在較大的安全隱患。

發明內容

本申請旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本申請實施例提供了一種數據實時校驗方法、裝置、電子設備及存儲介質，能夠快速定位并解決數據誤報問題，有效保證了數據的準確性和完整性。

第一方面，本申請實施例提供了一種數據實時校驗方法，應用于分布式存儲系統，所述分布式存儲系統的I/O路徑上有多個功能模塊，所述功能模塊用于傳輸I/O請求，所述I/O請求包括寫請求和讀請求，所述方法包括：

獲取請求操作空間，并將所述請求操作空間劃分為多個扇區；

為每個所述扇區配置狀態機；其中，所述狀態機用于根據狀態轉換圖切換所述扇區的工作狀態，所述工作狀態有多個，不同的所述工作狀態下對所述扇區有不同的操作；

針對多個所述功能模塊設置校驗點；所述校驗點包括請求入口和請求出口；

為每個所述校驗點劃分一個內存空間；所述內存空間用于存儲所述校驗點的狀態數據，所述狀態數據包括各個所述扇區的所述工作狀態和各個所述扇區的數據校驗和；

響應于寫請求，更新所述校驗點的所述狀態數據，包括：切換所述寫請求對應的所述扇區的所述工作狀態，在所述校驗點的所述請求入口計算所述寫請求中第一數據的第一校驗和，并將所述第一校驗和作為所述扇區的數據校驗和存儲至所述內存空間；

響應于讀請求，切換所述讀請求對應的所述扇區的所述工作狀態，并當所述扇區的所述工作狀態處于預設狀態時，在所述校驗點的所述請求出口計算所述讀請求中第二數據的第二校驗和；

當所述寫請求的第一位置與所述讀請求的第二位置相同時，基于所述內存空間獲取所述數據校驗和，對比所述數據校驗和與所述第二校驗和，以完成所述校驗點處的數據校驗；其中，所述寫請求包括第一偏移信息和第一長度信息，所述讀請求包括第二偏移信息和第二長度信息，所述第一位置由所述第一偏移信息和所述第一長度信息計算，所述第二位置由所述第二偏移信息和所述第二長度信息計算。

在本申請的一些實施例中，所述獲取請求操作空間，并將所述請求操作空間劃分為多個扇區，還包括：

將所述請求操作空間劃分為多個第一預設大小的數據塊；

將每個所述數據塊劃分為多個第二預設大小的所述扇區；所述第一預設大小大于所述第二預設大小。

在本申請的一些實施例中，所述為每個所述扇區配置狀態機，包括：