[發明專利]曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法、系統和存儲介質

在審

• 申請號: 202310432652.1
• 申請日: 2023-04-21
• 公開（公告）號: CN116664485A
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 李韋辰;張蓮蓮;陳晨;靳松;陳永超;張建樹
• 申請（專利權）人: 北京兆維智能裝備有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06V10/42
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 吳佳

本發明公開了一種曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法、系統和存儲介質，所述方法包括：獲取待檢測曲面屏的每條內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像；其中，任一內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像包含該內弧邊的完整影像；將每個內弧邊圖像分別輸入至用于對微裂紋區域進行檢測的目標缺陷檢測模型，得到每個內弧邊圖像的微裂紋缺陷檢測結果；基于所有的微裂紋缺陷檢測結果，確定所述待檢測曲面屏的內弧邊缺陷區域。本發明在實現提升曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測的準確率的同時，還提高了檢測效率。

背景技術

在生產曲面屏時，重要的一步就是將曲面玻璃與顯示屏和其他組件進行貼合。該貼合工藝過程中邊緣容易發生剝落、損壞，或著在貼合時受到其他組件擠壓，導致顯示屏受損。空氣會逐步侵入這些受損區域，并持續氧化屏幕有機物，最終產生不斷擴大的黑斑(Growing?Dark?Spot，GDS)。而黑斑的產生具有一定的滯后性，很可能會在出廠質檢后才形成，導致客戶投訴，成為了顯示生產廠商質檢環節亟待解決的重要難題。

目前針對GDS的質量檢測，通常分為屏幕挖孔區域檢測、屏幕內弧邊區域檢測、屏幕外弧邊區域檢測三種類型。屏幕內弧邊區域存在的缺陷主要為裂紋，裂紋寬度通常為1～3微米。另由于在貼合過程后，內弧邊表面有顯示基板存在，一般光學成像設備會將基板上的劃痕、臟污等干擾拍攝在內，與裂紋不易區分。然而，目前顯示屏幕生產廠商對該類型缺陷均未進行自動化檢測，只能進行人工抽檢。

因此，亟需提供一種技術方案解決上述問題。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供了一種曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法、系統和存儲介質。

本發明的曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法的技術方案如下：

獲取待檢測曲面屏的每條內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像；其中，任一內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像包含該內弧邊的完整影像；

將每個內弧邊圖像分別輸入至用于對微裂紋區域進行檢測的目標缺陷檢測模型，得到每個內弧邊圖像的微裂紋缺陷檢測結果；

基于所有的微裂紋缺陷檢測結果，確定所述待檢測曲面屏的內弧邊缺陷區域。

本發明的曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法的有益效果如下：

本發明的方法在實現提升曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測的準確率的同時，還提高了檢測效率。

在上述方案的基礎上，本發明的曲面屏內弧邊的微裂紋缺陷檢測方法還可以做如下改進。

進一步，所述獲取待檢測曲面屏的每條內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像的步驟，包括：

獲取通過顯微相機利用半光瞳對焦技術所拍攝的每條內弧邊分別對應的多個內弧邊圖像。

采用上述進一步技術方案的有益效果是：顯微相機采用半光瞳對焦技術快速對焦，實現將鏡頭聚焦到曲面屏內部的TFT電路層，虛化了表面干擾物，以區分干擾與微裂紋，從而為后續缺陷檢測提供更加精確的圖像。

進一步，所述目標缺陷檢測模型包括：依次連接設置且訓練好的目標圖像分割模塊、目標圖像分類模塊和特征提取模塊；所述將每個內弧邊圖像分別輸入至用于對微裂紋區域進行檢測的目標缺陷檢測模型，得到每個內弧邊圖像的微裂紋缺陷檢測結果的步驟，包括：

將任一內弧邊圖像輸入至所述目標圖像分割模塊，得到該內弧邊圖像的圖像分割特征并輸入至所述目標圖像分類模塊，得到該內弧邊圖像的圖像分類特征并輸入至所述特征提取模塊，得到包含該內弧邊圖像的微裂紋缺陷特征的微裂紋缺陷檢測結果，直至得到每個內弧邊圖像的微裂紋缺陷檢測結果。