[發明專利]一種基于模型融合絕緣子放電缺陷自適應識別方法及系統

在審

• 申請號: 202310400135.6
• 申請日: 2023-04-12
• 公開（公告）號: CN116468688A
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: 黃凱;金德發;馬艷輝;雷丞
• 申請（專利權）人: 武漢三江中電科技有限責任公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V10/80;G06T7/13;G06V10/44;G06T7/11;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 紀元

1.一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

獲取絕緣子的圖片數據集，對所述圖片數據集進行第一圖像處理，獲得第一樣本集，并依據所述第一樣本集構建生成第一目標檢測模型，所述第一目標檢測模型為單階段目標檢測模型；

對所述圖片數據集進行第二圖像處理，獲得第二樣本集，并依據所述第二樣本集構建生成第二目標檢測模型，所述第二目標檢測模型為雙階段目標檢測模型；

與所述絕緣子的圖片數據集相同采集手段下的待檢測絕緣子的圖片數據輸入至所述第一目標檢測模型獲得第一坐標數據；并輸入至第二目標檢測模型獲取第二坐標數據；解析所述第二坐標數據確定所述待檢測絕緣子的狀態信息；

對所述第一坐標數據和第二坐標數據進行融合分析獲取所述待檢測絕緣子的融合坐標數據，依據所述融合坐標數據計算獲得所述待檢測絕緣子的長度數據；

確定所述待檢測絕緣子的圖片數據中的紫外圖片數據提取放電區域的外接多邊形輪廓；并依據所述外接多邊形輪廓與所述融合坐標數據進行計算獲得所述待檢測絕緣子放電區域的第一長度；

選擇所述外接多邊形輪廓中與所述待檢測絕緣子方向相同的第一長度，以所述第一長度及所述長度數據計算所述放電區域在所述待檢測絕緣子表面的長度占比。

2.如權利要求1所述的一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，所述依據所述第二坐標數據確定所述待檢測絕緣子的狀態信息的步驟，包括：

解析所述第二坐標數據，對所述第二坐標數據進行計算獲得所述待檢測絕緣子的傾斜角度并進行狀態分類，獲得狀態分類結果，所述狀態分類結果包括待檢測絕緣子的第一狀態和第二狀態；

所述第一狀態為與第二坐標數據相同標記手段下的豎直或者水平狀態；

所述第二狀態為與第二坐標數據相同標記手段下的傾斜狀態。

3.如權利要求2所述的一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，所述對所述第一坐標數據和第二坐標數據進行融合分析獲取所述待檢測絕緣子的融合坐標數據的步驟，包括：

若所述待檢測絕緣子的狀態分類結果為第一狀態，則將所述第一坐標數據作為所述待檢測絕緣子的融合坐標數據；

若所述待檢測絕緣子的狀態分類結果為第二狀態，則將所述第一坐標數據和第二坐標數據進行交并比計算，獲取交并比最大的第二坐標數據作為融合坐標數據。

4.如權利要求3所述的一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，所述確定所述待檢測絕緣子的圖片數據中的紫外圖片數據提取放電區域的外接多邊形輪廓的步驟，包括：

確定所述待檢測絕緣子的圖片數據中的紫外圖片數據中的放電區域，對所述放電區域采用多邊形逼近的方法進行輪廓包圍，獲得放電區域外接多邊形輪廓；所述外接多邊形輪廓，包括最大外接矩形和最大外接圓。

5.如權利要求4所述的一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，所述依據所述外接多邊形輪廓與所述融合坐標數據進行計算獲得所述待檢測絕緣子放電區域的第一長度的步驟，包括：

若所述待檢測絕緣子的狀態分類結果為第一狀態，則計算獲取所述外接多邊形輪廓在第一方向軸或第二方向軸上的最大和最小坐標之間的差值作為第一長度。

6.如權利要求4所述的一種基于模型融合的絕緣子放電缺陷自適應識別方法，其特征在于，所述依據所述外接多邊形輪廓與所述融合坐標數據進行計算獲得所述待檢測絕緣子放電區域的第一長度的步驟，還包括：

若所述待檢測絕緣子的狀態分類結果為第二狀態，則判定所述放電區域沿第一方向軸的第一最大長度及沿第二方向軸的第二最大長度，所述第一方向軸及所述第二方向軸垂直；所述第一最大長度為所述外接多邊形輪廓在第一方向軸上的最大和最小坐標之間的差值；第二最大長度為所述外接多邊形輪廓在第二方向軸上的最大和最小坐標之間的差值；

當所述第一最大長度大于或等于所述第二最大長度時，確定所述多邊形輪廓為最大外接矩形，計算獲得所述最大外接矩形平行于所述絕緣子的切割線長度以作為第一長度；

當所述第二最大長度大于或等于所述第一最大長度時，確定所述多邊形輪廓為最大外接圓形，計算獲得所述最大外接圓的直徑以作為第一長度。