[發(fā)明專利]基于雙目立體視覺的孔測量方法、裝置、電子設備和介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2023-02-08
• 公開（公告）號: CN116091528A
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發(fā)明（設計）人: 王辰;何源;王曉南;成劍華;孫繁;盧金
• 申請（專利權）人: 武漢中觀自動化科技有限公司
• 主分類號: G06T7/13
• 分類號: G06T7/13;G01B11/00;G06T7/60;G06T7/70
• 代理公司: 武漢智嘉聯(lián)合知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 張璐

本申請公開了一種基于雙目立體視覺的孔測量方法、裝置、電子設備和介質(zhì)，該方法一方面，通過核線影像對孔的參數(shù)進行數(shù)據(jù)分析，從而確定孔的類型和尺寸，由于避免了接觸式測量，并且獲取孔的核線影像所需時間較短，因此能夠有效提高孔的測量效率；另一方面，由于雙目立體視覺技術對光照要求低，因此，基于雙目立體視覺技術獲取到的孔的核線影像更加可靠，能夠更好地保證孔的測量結果的精度；進一步地，基于預設目標類型孔對三維邊緣點坐標進行擬合，能夠最大化核線影像的數(shù)字化特性，提高最終獲取到的孔的類型和尺寸信息的精準度。

技術領域

本發(fā)明涉及工業(yè)測量技術領域，尤其涉及一種基于雙目立體視覺的孔測量方法、裝置、電子設備和介質(zhì)。

背景技術

孔是鈑金件、鑄件等常見的結構，用于裝配過程中的定位、連接等，因此，孔的加工精度對成品質(zhì)量有著重要的影響。

然而，目前常見的孔測量方法主要是三坐標、關節(jié)臂等接觸式測量方法，測量效率難以滿足生產(chǎn)效率需求。也就是說，當前的接觸式測量方法難以滿足大批量測量的生產(chǎn)需求。

因此，現(xiàn)有技術在進行孔測量的過程中，存在測量效率低的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種基于雙目立體視覺的孔測量方法、裝置、電子設備和介質(zhì)，用以解決現(xiàn)有技術中，在進行孔測量的過程中，存在的測量效率低的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種基于雙目立體視覺的孔測量方法，包括：

基于雙目立體視覺技術，獲取孔的第一核線影像和第二核線影像；

對第一核線影像和第二核線影像進行組合配對，確定孔的核線影像對；

根據(jù)核線影像對，確定孔的三維邊緣點坐標；

基于預設目標類型孔對三維邊緣點坐標進行擬合處理，得到孔的類型和尺寸。

進一步地，基于雙目立體視覺技術，獲取孔的第一核線影像和第二核線影像，包括：

通過雙目相機拍攝，得到孔的第一核線影像和第二核線影像，其中，雙目相機包括第一攝像頭和第二攝像頭；

通過第一攝像頭拍攝得到第一核線影像，通過第二核線影像拍攝得到第二核線影像。

進一步地，對第一核線影像和第二核線影像進行組合配對，確定孔的核線影像對，包括：

對第一核線影像和第二核線影像進行邊緣檢測，對應確定孔的第一封閉邊緣曲線和第二封閉邊緣曲線；

根據(jù)第一封閉邊緣曲線和第二封閉邊緣曲線，分別確定第一封閉邊緣曲線的第一邊緣行向最大最小值和第二封閉邊緣曲線的第二邊緣行向最大最小值；

根據(jù)第一邊緣行向最大最小值和第二邊緣行向最大最小值，確定孔的核線影像對。

進一步地，對第一核線影像和第二核線影像進行邊緣檢測，對應確定孔的第一封閉邊緣曲線和第二封閉邊緣曲線，包括：

根據(jù)亞像素邊緣算法，分別計算第一核線影像的第一亞像素邊緣點位和第二核線影像的第二亞像素邊緣點位；

根據(jù)第一亞像素邊緣點位和第二亞像素邊緣點位，對應確定孔的第一封閉邊緣曲線和第二封閉邊緣曲線。

進一步地，根據(jù)核線影像對，確定孔的三維邊緣點坐標，包括：

獲取第一攝像頭的第一主距、第二攝像頭的第二主距以及核線影像對的同名點對坐標；

根據(jù)第一主距、第二主距以及同名點對坐標，通過透視成像原理，得到孔的三維邊緣點坐標。

進一步地，預設目標類型孔包括方形孔、圓形孔、多邊形孔以及弧形孔，其中，預設目標類型孔的邊緣均為封閉模式。