[發(fā)明專利]缺陷輪廓提取方法、裝置、存儲介質(zhì)、設備及程序產(chǎn)品

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310080248.2
• 申請日: 2023-02-08
• 公開（公告）號: CN115861293A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設計）人: 請求不公布姓名
• 申請（專利權(quán)）人: 成都數(shù)聯(lián)云算科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/70;G06T7/13
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 孫朝銳

1.一種缺陷輪廓提取方法，其特征在于，包括以下步驟：

根據(jù)目標圖像上缺陷的位置信息，對所述缺陷進行掩碼處理，獲得掩碼圖像；

對所述掩碼圖像進行修復，獲得修復圖像；其中，所述修復圖像為所述目標圖像對應的產(chǎn)品無缺陷背景圖像；

將所述修復圖像與所述目標圖像在像素級做差，獲得缺陷輪廓信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述根據(jù)目標圖像上缺陷的位置信息，對所述缺陷進行掩碼處理，獲得掩碼圖像之前，所述缺陷輪廓提取方法還包括：

根據(jù)所述目標圖像上的缺陷信息，獲得所述目標圖像上缺陷的bbox坐標信息；

所述根據(jù)目標圖像上缺陷的位置信息，對所述缺陷進行掩碼處理，獲得掩碼圖像，包括：

根據(jù)目標圖像上缺陷的bbox坐標信息，對所述缺陷進行掩碼處理，獲得掩碼圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述根據(jù)目標圖像上缺陷的bbox坐標信息，對所述缺陷進行掩碼處理，獲得掩碼圖像，包括：

根據(jù)目標圖像上缺陷的bbox坐標信息，生成掩碼區(qū)域；

根據(jù)所述掩碼區(qū)域?qū)λ鋈毕葸M行掩碼處理，獲得掩碼圖像。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述將所述修復圖像與所述目標圖像在像素級做差，獲得缺陷輪廓信息，包括：

分別將所述修復圖像與所述目標圖像的對應像素點做差，獲得像素差值信息；

將所述像素差值信息作為新的像素點的像素值，生成差值圖像；

根據(jù)所述差值圖像，獲得缺陷輪廓信息。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述將所述像素差值信息作為新的像素點的像素值，生成差值圖像之后，所述缺陷輪廓提取方法還包括：

對所述差值圖像進行二值化處理，獲得二值化差值圖像；

所述根據(jù)所述差值圖像，獲得缺陷輪廓信息，包括：

根據(jù)所述二值化差值圖像，獲得缺陷輪廓信息。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述根據(jù)所述差值圖像，獲得缺陷輪廓信息，包括：

根據(jù)所述差值圖像，獲得所述缺陷覆蓋區(qū)域；

提取所述缺陷覆蓋區(qū)域的輪廓，獲得缺陷輪廓信息。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述對所述掩碼圖像進行修復，獲得修復圖像，包括：

將所述掩碼圖像上的掩碼去除，獲得待修復圖像；

基于所述待修復圖像上除所述掩碼以外區(qū)域的背景信息，生成修復素材；

將所述修復素材置于所述掩碼所在區(qū)域，獲得修復圖像。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述對所述掩碼圖像進行修復，獲得修復圖像，包括：

將所述掩碼圖像輸入已訓練的圖像修復模型，獲得修復圖像；其中，所述圖像修復模型能夠?qū)D像上的掩碼去除，并將所述圖像修復為對應的產(chǎn)品無缺陷背景圖像。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述將所述掩碼圖像輸入已訓練的圖像修復模型，獲得修復圖像之前，所述缺陷輪廓提取方法還包括：

獲得若干無缺陷的目標產(chǎn)品的背景圖；

將掩碼素材分別與所述背景圖疊加，獲得若干疊加圖像；

基于若干所述疊加圖像、所述背景圖以及所述掩碼素材，訓練獲得所述圖像修復模型。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的缺陷輪廓提取方法，其特征在于，所述獲得若干無缺陷的目標產(chǎn)品的背景圖之后，所述缺陷輪廓提取方法還包括：

對所述背景圖進行數(shù)據(jù)增強，獲得目標背景圖；

所述將掩碼素材分別與所述背景圖疊加，獲得若干疊加圖像，包括：

將掩碼素材分別與所述目標背景圖疊加，獲得若干疊加圖像。