[發(fā)明專利]一種光模塊自動(dòng)測試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710132020.8
• 申請(qǐng)日: 2017-03-07
• 公開（公告）號(hào): CN107101803B
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔣揚(yáng)軍;王國棟;彭勤衛(wèi);陳念明;姚騰飛;賀可曉;王宇飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深南電路股份有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/00
• 分類號(hào): G01M11/00
• 代理公司: 深圳市深軟翰琪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44380
• 代理人: 徐翀

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種光模塊自動(dòng)測試裝置，包括：中央導(dǎo)軌，鋪設(shè)在所述中央導(dǎo)軌上的傳送鏈，以及對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述中央導(dǎo)軌兩側(cè)的光纖接頭和光模塊測試板；所述傳送鏈能夠沿所述中央導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)，且所述光纖接頭和所述光模塊測試板能夠相對(duì)運(yùn)動(dòng)；當(dāng)所述傳送鏈中的光模塊運(yùn)動(dòng)至所述光纖接頭和所述光模塊測試板之間的測試位置時(shí)，所述光纖接頭和所述光模塊測試板向中間靠攏與所述光模塊對(duì)接，完成對(duì)所述光模塊的測試。該光模塊自動(dòng)測試裝置的結(jié)構(gòu)緊湊，能夠整體嵌入高溫箱、低溫箱中，自動(dòng)完成產(chǎn)品常溫、高溫與低溫環(huán)境測試，操作方便，能有效提高測試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種光模塊自動(dòng)測試裝置。

背景技術(shù)

光模塊包括光接收模塊、光發(fā)射模塊、光收發(fā)一體模塊和光轉(zhuǎn)發(fā)模塊等，主要功能是實(shí)現(xiàn)光電/電光轉(zhuǎn)換。光模塊測試，是指在研發(fā)生產(chǎn)期間為了保證光模產(chǎn)品塊性能和生產(chǎn)質(zhì)量，而進(jìn)行不同存儲(chǔ)環(huán)境下的產(chǎn)品測試及產(chǎn)品關(guān)鍵參數(shù)的測量。光模塊測試包括常溫環(huán)境測試、高溫環(huán)境測試和低溫環(huán)境測試。

現(xiàn)階段光模塊的測試方法中，高溫環(huán)境測試和低溫環(huán)境測試主要是借助于高溫箱加熱到指定溫度、低溫箱降溫到指定溫度創(chuàng)造需要的測試環(huán)境，待達(dá)到加熱或冷卻時(shí)間后，保持在高溫或低溫環(huán)境下，人工將光模塊依次連接參數(shù)測試設(shè)備，最后讀取并記錄得到的關(guān)鍵參數(shù)。

實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的光模塊測試技術(shù)存在如下缺陷：1．測試時(shí)需要人工操控全部測試過程，導(dǎo)致測試效率底下，延長了光模塊研發(fā)生產(chǎn)周期；2．在將已經(jīng)加熱或冷卻過的光模塊與測試設(shè)備連接時(shí)，需要人的身體接入高溫或低溫環(huán)境，高低溫惡劣環(huán)境條件易對(duì)人體造成傷害，且操作不方便。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種光模塊自動(dòng)測試裝置。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下：

一種光模塊自動(dòng)測試裝置，包括：中央導(dǎo)軌，鋪設(shè)在所述中央導(dǎo)軌上的傳送鏈，以及對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述中央導(dǎo)軌兩側(cè)的光纖接頭和光模塊測試板；所述傳送鏈能夠沿所述中央導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)，且所述光纖接頭和所述光模塊測試板能夠相對(duì)運(yùn)動(dòng)；當(dāng)所述傳送鏈中的光模塊運(yùn)動(dòng)至所述光纖接頭和所述光模塊測試板之間的測試位置時(shí)，所述光纖接頭和所述光模塊測試板向中間靠攏與所述光模塊對(duì)接，完成對(duì)所述光模塊的測試。其中，所述光模塊自動(dòng)測試裝置的各個(gè)組件可以緊湊安裝在支座上，能夠整體嵌入高溫箱或低溫箱中。

在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述支座上還安裝有放料卷盤和收料卷盤以及第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述傳送鏈的兩端分別與所述放料卷盤和所述收料卷盤連接，所述收料卷盤與所述第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接并在所述第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)使下轉(zhuǎn)動(dòng)。

結(jié)合第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述放料卷盤的轉(zhuǎn)軸位置設(shè)置有位置補(bǔ)償機(jī)構(gòu)，所述位置補(bǔ)償機(jī)構(gòu)內(nèi)設(shè)置的渦卷彈簧產(chǎn)生與收料方向相反的扭矩并作用于所述放料卷盤。

在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述光模塊自動(dòng)測試裝置還包括滑動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括所述中央導(dǎo)軌的下方設(shè)置的、與所述中央導(dǎo)軌垂直的底部滑臺(tái)，所述底部滑臺(tái)的兩端分別安裝有可滑動(dòng)的光纖接頭滑臺(tái)和光模塊測試板滑臺(tái)，所述光纖接頭和所述光模塊測試板分別安裝在所述光纖接頭滑臺(tái)和所述光模塊測試板滑臺(tái)上。

結(jié)合第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述光纖接頭滑臺(tái)和所述光模塊測試板滑臺(tái)分別和雙旋向傳動(dòng)螺桿連接，所述雙旋向傳動(dòng)螺桿與第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接并在所述第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)使下轉(zhuǎn)動(dòng)，以帶動(dòng)所述光纖接頭滑臺(tái)和所述光模塊測試板滑臺(tái)相對(duì)運(yùn)動(dòng)。

結(jié)合第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述滑動(dòng)機(jī)構(gòu)包括兩組，兩對(duì)所述光纖接頭和所述光模塊測試板分別安裝于所述兩組滑動(dòng)機(jī)構(gòu)上，兩對(duì)所述光纖接頭和所述光模塊測試板分別用于測試所述光模塊的接收端和發(fā)射端。