[實用新型]一種檢測設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202220921513.6
• 申請日: 2022-04-20
• 公開（公告）號: CN218057644U
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發(fā)明（設計）人: 林宜龍;黃水清;唐若芹;張勇;林清嵐
• 申請（專利權）人: 深圳格芯集成電路裝備有限公司
• 主分類號: B65H16/04
• 分類號: B65H16/04;B65H18/02;B65H18/10;B65H23/26;G01N21/89
• 代理公司: 深圳高智量知識產(chǎn)權代理有限公司 44851
• 代理人: 姚啟迪

本實用新型提供了一種檢測設備，包括機臺、第一轉盤機構、第二轉盤機構、展料機構、檢測機構及標記機構；第一轉盤機構包括至少兩個第一轉盤，其用于釋放卷帶或卷收卷帶；第二轉盤機構包括至少兩個第二轉盤，第二轉盤與第一轉盤一一對應，其用于卷收從第一轉盤釋放出來的卷帶或將卷帶釋放到第一轉盤；展料機構設置在第一轉盤機構與第二轉盤機構之間，其具有至少兩條展料料道，展料料道的一端與一第一轉盤對應設置，其另一端與一第二轉盤對應設置；檢測機構設置在展料料道的上方，用于對展料料道上的卷帶進行檢測；標記機構設置在展料料道的上方，標記機構包括至少兩個標記件，標記件與展料料道一一對應設置，標記件用于對檢測后的料帶進行標記。

技術領域

本實用新型涉及芯片檢測的技術領域，尤其涉及一種檢測設備。

背景技術

芯片(簡稱IC)在編帶機上編帶形成卷帶后，可能會存在卷帶的缺料、卷帶表面刮傷、芯片的各種表面缺陷、字符打印質量差等缺陷，因此，需要對卷帶的外觀進行檢測以判斷是否存在缺陷。

現(xiàn)有技術的檢測設備對卷帶的檢測方式為單條檢測，即一次對一條卷帶進行檢測，檢測效率較低，無法滿足大批卷帶需要檢測的要求。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種檢測設備，以解決現(xiàn)有技術中檢測設備的檢測效率低、無法滿足大批卷帶需要檢測的要求的技術問題。

本實用新型提供了一種檢測設備，所述檢測設備包括：

機臺；

第一轉盤機構，所述第一轉盤機構設置在所述機臺上，所述第一轉盤機構包括至少兩個第一轉盤，所述第一轉盤用于釋放卷帶或卷收卷帶；

第二轉盤機構，所述第二轉盤機構設置在所述機臺上，所述第二轉盤機構包括至少兩個第二轉盤，所述第二轉盤與所述第一轉盤一一對應，所述第二轉盤用于卷收從所述第一轉盤釋放出來的卷帶或將卷帶釋放到所述第一轉盤；

展料機構，所述展料機構設置在所述第一轉盤機構與所述第二轉盤機構之間，所述展料機構具有至少兩條展料料道，所述展料料道的一端與一所述第一轉盤對應設置，所述展料料道的另一端與一所述第二轉盤對應設置；

檢測機構，所述檢測機構設置在所述展料料道的上方，所述檢測機構用于對所述展料料道上的卷帶進行檢測；

標記機構，所述標記機構設置在所述展料料道的上方，所述標記機構包括至少兩個標記件，所述標記件與所述展料料道一一對應設置，所述標記件用于對檢測后的卷帶進行標記。

作為本實用新型的一個實施例，所述檢測機構包括第一支架、至少兩個第一相機和至少一個第二相機，所述第一支架設置在所述機臺上，兩個所述第一相機均設置在所述第一支架上并分別對應兩條所述展料料道；所述第二相機設置在所述第一支架上并位于兩條所述展料料道的中間上方。

作為本實用新型的一個實施例，所述檢測機構還包括第一調節(jié)桿、調節(jié)塊以及第二調節(jié)桿；

所述第一調節(jié)桿設置在所述第一支架上，且所述第一調節(jié)桿的長度延伸方向與水平方向平行；所述調節(jié)塊至少為兩個，所述調節(jié)塊設置在所述第一調節(jié)桿上，且所述調節(jié)塊可沿著所述第一調節(jié)桿移動；所述第二調節(jié)桿至少為兩個，所述第二調節(jié)桿一一對應設置在所述調節(jié)塊上，且所述第二調節(jié)桿的延伸方向與豎直方向平行；所述第一相機一一對應設置在所述調節(jié)塊上，且所述第一相機可沿所述第二調節(jié)桿移動。

作為本實用新型的一個實施例，所述檢測機構還包括至少兩個第一發(fā)光件和至少一個第二發(fā)光件；所述第一發(fā)光件與所述第一相機一一對應設置，以為所述第一相機提高光源；所述第二發(fā)光件與所述第二相機對應設置，以為所述第二相機提供光源。

作為本實用新型的一個實施例，所述標記機構還包括第二支架、至少兩個第一驅動件、第二驅動件、第一標簽輪以及第二標簽輪；