[實用新型]一種熒光計

有效

• 申請號: 202220685405.3
• 申請日: 2022-03-25
• 公開（公告）號: CN217212254U
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 陳琦;陳強;陳銘立
• 申請（專利權）人: 杭州奧盛儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京維飛聯創知識產權代理有限公司 11857
• 代理人: 趙琳琳

本申請提供了一種熒光計，屬于醫療檢測技術領域，該熒光計包括基座、試管座、光路檢測機構和驅動機構。試管座安裝于基座，試管座設置有沿第一方向和第二方向陣列排布的多個容納孔，容納孔用于容納試管，光路檢測機構用于檢測試管內的熒光分析物，驅動機構連接于基座和光路檢測機構，驅動機構用于驅動光路檢測機構沿第一方向和第二方向。該熒光計通過驅動機構能夠驅動光路檢測機構沿相互垂直的兩個方向，使得光路檢測機構位于多個不同的位置，以實現對多排試管中的熒光分析物進行檢測，從而提高了檢測效率。

技術領域

本申請涉及醫療檢測技術領域，具體而言，涉及一種熒光計。

背景技術

目前，常采用熒光計對試管的熒光分析物進行檢測，現有的熒光計能夠對單排或者單個的試管內分析物進行檢測，檢測效率較低。

實用新型內容

本申請實施例提供一種熒光計，以改善現有的熒光計檢測效率較低的問題。

本申請實施例提供一種熒光計，所述熒光計包括基座、試管座、光路檢測機構和驅動機構，所述試管座安裝于所述基座，所述試管座設置有沿第一方向和第二方向陣列排布的多個容納孔，所述容納孔用于容納試管；所述光路檢測機構用于檢測所述試管內的熒光分析物；所述驅動機構連接于所述基座和所述光路檢測機構，所述驅動機構用于驅動所述光路檢測機構沿所述第一方向和所述第二方向移動。

在上述技術方案中，驅動機構能夠驅動光路檢測機構沿相互垂直的第一方向和第二方向移動，對容納于試管座設置的沿第一方向和第二方向陣列排布的容納孔的試管內的熒光分析物進行分析檢測，以對容納于容納孔內的多排試管的熒光分析物進行檢測分析，從而提高了檢測效率。

在一些實施例中，所述光路檢測機構包括光源、檢測單元和光路轉換組件，所述光源用于提供激發光，所述檢測單元用于檢測所述試管內的熒光分析物，所述光路轉換組件用于使所述激發光沿第一光路入射至所述試管的側壁，并用于使熒光分析物被所述激發光激發產生的熒光沿第二光路入射至所述檢測單元，其中，所述第一光路與所述容納孔的軸線呈非零夾角設置。

在上述技術方案中，由于第一光路與容納孔的軸線呈非零夾角設置，光源產生的激發光通過光路轉換組件沿第一光路入射至試管的側壁，而試管內熒光分析物受到激發光激發產生的熒光沿第二光路入射至檢測單元，試管的側壁較薄能夠降低試管壁對檢測單元檢測結果的影響，從而使檢測單元對試管內的熒光分析物做出較為準確的檢測。

在一些實施例中，所述試管座上設有多個導光孔，所述導光孔與所述容納孔一一對應，所述容納孔的一端貫穿所述試管座的上表面，所述導光孔的一端貫穿所述容納孔的孔壁，所述導光孔的另一端貫穿所述試管座的下表面，所述導光孔供所述激發光穿過，以使所述激發光入射至所述試管的側壁。

在上述技術方案中，試管座的容納孔能夠用來安裝試管，試管座的導光孔一端貫穿容納孔的孔壁，導光孔的另一端貫穿試管座的下表面，能夠使激發光穿過導光孔入射至試管的側壁，而試管的側壁較薄，能夠降低試管壁厚度對檢測單元的檢測結果準確性的影響。

在一些實施例中，所述導光孔的軸線與所述容納孔的軸線所呈夾角α，α滿足：30°≤α≤45°。

在上述技術方案中，導光孔的軸線與容納孔的軸線呈夾角α，α滿足：30°≤α≤45°，從而使試管座內相鄰兩排的一排的容納孔的導光孔靠近試管座下表面的一端避開另一排的容納孔。

在一些實施例中，所述容納孔為盲孔。

在上述技術方案中，容納孔為盲孔，避免光源發出的激發光由容納孔的底部入射至試管的底壁，影響檢測單元對試管內熒光分析物的檢測結果。

在一些實施例中，所述光路轉換組件包括二相色鏡、第一透鏡、第二透鏡、第一發射濾光片、第三透鏡和第二發射濾光片，其中，光源、第一透鏡、第一發射濾光片、二相色鏡、第二透鏡依次沿所述第一光路排布，第二透鏡、二相色鏡、第三透鏡、第二發射濾光片依次沿所述第二光路排布。