[實用新型]一種光纖鍍膜后的綜合檢測平臺

有效

• 申請號: 202220360873.3
• 申請日: 2022-02-22
• 公開（公告）號: CN217156319U
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: 王書付;趙耀;劉攀平
• 申請（專利權）人: 深圳市光擎智能科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N17/00;G01J5/48;G01J1/42;G01M11/02;B25B11/00
• 代理公司: 深圳市世紀宏博知識產權代理事務所(普通合伙) 44806
• 代理人: 賴智威

1.一種光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：包括機架和主計算機，在所述機架上部形成有工作空間，所述工作空間的前面設有開合門，所述工作空間的底面設有基板，在所述基板上設有熔接機、光纖固定夾具、紅外熱成像儀、CCD相機、L型相機、功率計和老化箱，所述光纖固定夾具用于固定夾住待檢測的鍍膜光纖的入光端部；所述功率計對向待檢測的鍍膜光纖的入光端面，用于通激光后的鍍膜光纖的功率的檢測；所述紅外熱成像儀對向待檢測的鍍膜光纖的入光端部，用于獲取熱成像圖像；所述L型相機對向待檢測的鍍膜光纖的柱面，用于獲取柱面圖像；所述CCD相機對向待檢測的鍍膜光纖的出光端面，用于獲取出光端面圖像，所述老化箱用于對鍍膜光纖的入光端面進行加溫老化；所述熔接機、紅外熱成像儀、CCD相機、L型相機、功率計和老化箱分別與所述主計算機電性連接。

2.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述光纖固定夾具的前方設有老化洞，所述老化箱位于所述基板的下面，且所述老化箱的加熱老化端口正對所述老化洞，所述光纖固定夾具可向前翻轉的設置在所述基板上面，向前翻轉所述光纖固定夾可使得鍍膜光纖的入光端部伸入所述老化箱的加熱老化端口內。

3.根據權利要求2所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述基板的上面設有墊高塊，所述光纖固定夾具設在所述墊高塊的上面，所述光纖固定夾具的前邊與所述墊高塊的前邊相鉸接。

4.根據權利要求3所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述基板上設有可拆卸的安裝板，所述老化箱固定安裝在所述安裝板的下面，所述墊高塊固定設在所述安裝板的上面。

5.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述基板上通過防護安全板分隔出有兩部分檢測空間，所述熔接機位于其中一部分檢測空間中，所述光纖固定夾具、紅外熱成像儀、CCD相機、L型相機和老化箱設在另一部分檢測空間中。

6.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述基板上開設有若干按規律排列的定位孔，所述光纖固定夾具、紅外熱成像儀、CCD相機、L型相機、功率計和老化箱可安裝在不同的所述定位孔上，以調節位置。

7.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述基板上還安裝有第一相機安裝架和第二相機安裝架，所述紅外熱成像儀安裝在所述第一相機安裝架上，使得所述紅外熱成像儀位于待檢測的鍍膜光纖的入光端部的上方，所述L型相機安裝在所述第二相機安裝架上，使得所述L型相機位于待檢測的鍍膜光纖的入光端部的側邊。

8.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述綜合檢測平臺還包括用于工作時進行冷卻的水冷系統。

9.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述綜合檢測平臺還包括電源箱，所述電源箱設在所述機架的下部。

10.根據權利要求1所述的光纖鍍膜后的綜合檢測平臺，其特征在于：所述機架的外表設有防護板。