[實(shí)用新型]一種穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202220304829.0 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN217305242U | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭紅方;黃樹(shù)春 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市方得智科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道崗*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 穩(wěn)定性 集成電路 測(cè)試 裝置 底座 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座,涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型包括測(cè)試臺(tái),測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均開(kāi)設(shè)有第一環(huán)形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽,第一環(huán)形槽的內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)配合有第一環(huán)形板,測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均彈性且滑動(dòng)配合有卡塊,卡塊與第一環(huán)形板配合。本實(shí)用新型設(shè)置的底座,便捷了通過(guò)底座對(duì)測(cè)試臺(tái)進(jìn)行支撐,滑動(dòng)柱的設(shè)置,以使底座在第一彈簧彈性的帶動(dòng)下帶動(dòng)滑動(dòng)柱在第一滑道內(nèi)滑動(dòng),以使通過(guò)底座適應(yīng)不同的放置面,提高了測(cè)試臺(tái)在測(cè)試的準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座。
背景技術(shù)
穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座是對(duì)集成電路測(cè)試裝置進(jìn)行放置的一種底座,集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu),其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個(gè)整體。
現(xiàn)有便于攜帶的集成電路測(cè)試裝置需要放置的地方需要是水平面上,如果集成電路測(cè)試裝置放置的地方不水平,這樣容易造成集成電路測(cè)試裝置在使用時(shí)穩(wěn)定性差的情況,進(jìn)而會(huì)影響集成電路測(cè)試裝置在測(cè)試時(shí)的準(zhǔn)確性。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座,解決了現(xiàn)有集成電路測(cè)試裝置穩(wěn)定性差的技術(shù)問(wèn)題。
為達(dá)上述目的,本實(shí)用新型是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種穩(wěn)定性強(qiáng)的集成電路測(cè)試裝置底座,包括測(cè)試臺(tái),測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均開(kāi)設(shè)有第一環(huán)形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽,第一環(huán)形槽的內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)配合有第一環(huán)形板,測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均彈性且滑動(dòng)配合有卡塊,卡塊與第一環(huán)形板配合;
滑動(dòng)柱,且滑動(dòng)柱滑動(dòng)配合在第一滑道內(nèi),滑動(dòng)柱外側(cè)壁上裝設(shè)有定位板,滑動(dòng)柱的一端裝設(shè)有底座,底座與第一環(huán)形板之間裝設(shè)有第一彈簧。
可選的,測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均開(kāi)設(shè)有第三滑道,且卡塊滑動(dòng)配合在第三滑道內(nèi),第三滑道與第一滑道相連通,卡塊與第三滑道側(cè)壁之間裝設(shè)有第二彈簧,卡塊的一側(cè)裝設(shè)有滑動(dòng)桿,第一環(huán)形板的外側(cè)壁開(kāi)設(shè)有第一定位槽、第二定位槽,且第一定位槽位于靠近第二滑道的一側(cè),第二定位槽位于靠近卡槽的一側(cè),方便了通過(guò)滑動(dòng)桿帶動(dòng)卡塊在第三滑道內(nèi)滑動(dòng)。
可選的,測(cè)試臺(tái)底部的四個(gè)角處均開(kāi)設(shè)有第二環(huán)形槽、第三環(huán)形槽,且第二環(huán)形槽、第三環(huán)形槽與第一環(huán)形槽相連通,第一環(huán)形板的內(nèi)側(cè)壁、外側(cè)壁均裝設(shè)有第二環(huán)形板,且兩個(gè)第二環(huán)形板分別位于第二環(huán)形槽、第三環(huán)形槽內(nèi),減少了第一環(huán)形板在轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)傾斜的情況。
本實(shí)用新型的實(shí)施例具有以下有益效果:
本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例設(shè)置的底座,便捷了通過(guò)底座對(duì)測(cè)試臺(tái)進(jìn)行支撐,滑動(dòng)柱的設(shè)置,以使底座在第一彈簧彈性的帶動(dòng)下帶動(dòng)滑動(dòng)柱在第一滑道內(nèi)滑動(dòng),以使通過(guò)底座適應(yīng)不同的放置面,提高了測(cè)試臺(tái)在測(cè)試的準(zhǔn)確率。
當(dāng)然,實(shí)施本實(shí)用新型的任一產(chǎn)品并不一定需要同時(shí)達(dá)到以上所述的所有優(yōu)點(diǎn)。
附圖說(shuō)明
構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的說(shuō)明書(shū)附圖用來(lái)提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解,本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本實(shí)用新型,并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
圖1為本實(shí)用新型一實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實(shí)用新型一實(shí)施例的仰視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為圖2中A處結(jié)構(gòu)示意圖。
其中,上述附圖包括以下附圖標(biāo)記:
測(cè)試臺(tái)1,第一環(huán)形槽2,第一滑道3,第二滑道4,卡槽5,滑動(dòng)柱6,底座7,定位板8,第一彈簧9,第一環(huán)形板10,第三滑道11,第二彈簧12,卡塊13,滑動(dòng)桿14。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市方得智科技有限公司,未經(jīng)深圳市方得智科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202220304829.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





