[實用新型]一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置

有效

• 申請號: 202220238922.6
• 申請日: 2022-01-28
• 公開（公告）號: CN217637181U
• 公開（公告）日: 2022-10-21
• 發明（設計）人: 鐘根帶;曾福林;姬春霞;李文銳
• 申請（專利權）人: 廣州廣合科技股份有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 廣州市時代知識產權代理事務所(普通合伙) 44438
• 代理人: 馬盼

本實用新型公開了一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置，其中，背鉆孔的底部為鉆孔，所述鉆孔底部為焊盤；測量裝置包括：下測試架，包括下探針，所述下探針與所述焊盤相抵接；上測試架，包括上探針；所述上探針的外徑小于所述背鉆孔的內徑；電測設備，同時連接所述上探針和下探針，所述上探針、下探針和電測設備導通。本申請提供的一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置，能夠準確快速地檢測背鉆孔內殘樁是否超標，檢測速度快，效率高，進一步確保了PCB板的使用性能。

技術領域

本實用新型涉及PCB背鉆孔領域，尤其涉及一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置。

背景技術

背鉆工藝廣泛應于高頻高速的PCB中，背鉆的工藝指的是將鉆孔中多余的銅層鉆掉，避免高速信號傳輸反射、散射、延遲等給信號帶來失真的問題。在背鉆工藝中，往往會因為定位不準導致背鉆孔偏斜，造成背鉆孔內殘樁超長。針對殘樁長度超標的現象，目前是質檢員采用放大鏡進行肉眼檢查，人工檢查嚴重依賴質檢員的工作經驗，且長時間作業易疲勞，造成殘樁漏檢；進而影響PCB使用過程中的信號傳輸。

實用新型內容

本實用新型旨在至少在一定程度上解決相關技術中的問題之一。為此，本實用新型的目的在于提供一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置，能夠準確快速地檢測背鉆孔內殘樁是否超標，檢測速度快，效率高，進一步確保了PCB板的使用性能。

為了實現上述目的，本實用新型提出了一種PCB背鉆孔殘樁的測量裝置，其中，背鉆孔的底部為鉆孔，所述鉆孔底部為焊盤；包括：

下測試架，包括下探針，所述下探針與所述焊盤相抵接；

上測試架，包括上探針；所述上探針的外徑小于所述背鉆孔的內徑；

電測設備，同時連接所述上探針和下探針，所述上探針、下探針和電測設備導通。

進一步的，背鉆板上設置有下測試架固定孔，所述下測試架中設置有下測試架定位銷，所述下測試架定位銷與所述下測試架固定孔相適配。

進一步的，所述下測試架遠離背鉆板的一側設置有豎直銷釘。

進一步的，背鉆板上設置有上測試架固定孔，所述上測試架中設置有上測試架定位銷，所述上測試架定位銷與所述上測試架固定孔相適配。

進一步的，所述上測試架的左右兩側設置有水平銷釘。

進一步的，所述上探針包括測試部和絕緣部，所述絕緣部位于測試部遠離背鉆孔的一側。

進一步的，所述測試部遠離絕緣部的一端為弧狀結構，且測試部軸線位置相對于兩邊位置凹陷。

進一步的，所述絕緣部在軸線方向的長度為3-5mm；所述測試部在軸線方向的長度為X-0.4mm；X表示背鉆孔所用的鉆刀在軸線方向的長度。

進一步的，所述絕緣部的外徑與測試部的外徑均為Y-0.05mm；Y表示背鉆孔所用的鉆刀的刀徑。

本申請實施例提供的上述技術方案與現有技術相比具有如下優點：本申請中下探針連接鉆孔下方的焊盤，焊盤為導體；上探針從頂部伸入至背鉆孔內部，并通過電測設備與下探針導通，若背鉆孔內殘樁超標，則上探針和下探針與電測設備形成通路；若背鉆孔內殘樁未超標，則上探針和下探針無法形成通路，本申請通過在電測設備中觀測是否形成通路，便可快速準確地判斷出背鉆孔內殘樁是否超標，大大提高了背鉆孔的檢測效率，確保了PCB板的使用性能。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分，示出了符合本實用新型的實施例，并與說明書一起用于解釋本實用新型的原理。

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對于本領域普通技術人員而言，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。