[實用新型]功率半導體器件用老化板裝置

有效

• 申請號: 202220221626.5
• 申請日: 2022-01-26
• 公開（公告）號: CN216870726U
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 姚啟明;孫元鵬;張文亮
• 申請（專利權）人: 山東閱芯電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 韓鳳

本實用新型涉及一種功率半導體器件用老化板裝置。其包括老化板體以及若干設置于老化板體上的測試工位區；還包括器件測試支撐連接體，待測功率半導體器件置于器件測試支撐連接體上時，待測功率半導體器件的器件引出端子插入器件測試支撐連接體上相應的器件端子定位連接孔內，以使得一器件引出端子與位于所插入器件端子定位連接孔內的測試工位測試連接體適配電連接，器件測試支撐連接體與置于所述器件測試支撐連接體上的待測功率半導體器件相互絕緣；在待測功率半導體器件上設置測試散熱器。本實用新型能提高待測試功率半導體器件與老化板連接的便捷性與可靠性，提高測試的效率。

技術領域

本實用新型涉及一種老化板裝置，尤其是一種功率半導體器件用老化板裝置。

背景技術

在高溫反偏/柵偏實驗中，待測功率半導體器件需要與測試機進行電氣連接，通常在150℃/168hrs的條件下同時測試32-64只功率半導體器件，若逐一把功率半導體器件連接到測試機上，很容易出現誤插的情況且會導致測試效率較低，因此，試驗時，通常會把功率半導體器件安裝在一種耐高溫的印制電路板上并與電路板產生電氣連接，最后把帶著功率半導體器件的電路板連接到測試機中，由于電路板與一只或多只功率半導體器件一起做老化測試，故電路板又稱作老化板。

在某些測試機中，測試前先需要把功率半導體器件安裝在老化板上，再通過導線完成功率半導體器件與老化板的電氣連接，但此方案需要連接大量的導線，效率較低，在安裝老化板的過程中會有剮蹭導線的風險?；蛘?，功率半導體器件安裝在一種金屬的夾具上，再通過彈簧針等方式實現功率半導體器件與老化板的電氣連接，但金屬夾具有劃傷器件的風險，且金屬夾具在高電壓時受因爬電距離的影響可能會使功率半導體器件短路，難以滿足實際測試的要求。

發明內容

本實用新型的目的是克服現有技術中存在的不足，提供一種功率半導體器件用老化板裝置，其結構緊湊，能提高待測試功率半導體器件與老化板連接的便捷性與可靠性，提高測試的效率。

按照本實用新型提供的技術方案，所述功率半導體器件用老化板裝置，包括老化板體以及若干設置于老化板體上的測試工位區；還包括若干與老化板體上測試工位區適配的器件測試支撐連接體，器件測試支撐連接體與老化板體上的測試工位區呈一一對應，在任一測試工位區內設置若干測試工位測試連接體，測試工位區內的測試工位測試連接體與器件測試支撐連接體上相應的測試連接定位孔正對應，測試工位測試連接體的器件端子連接端能伸入所正對應的測試連接定位孔內；

待測功率半導體器件置于器件測試支撐連接體上時，待測功率半導體器件的器件引出端子插入器件測試支撐連接體上相應的測試連接定位連接孔內，以使得一器件引出端子與位于所插入測試連接定位孔內的測試工位測試連接體適配電連接，器件測試支撐連接體與置于所述器件測試支撐連接體上的待測功率半導體器件相互絕緣；

在待測功率半導體器件上設置測試散熱器，通過手擰螺絲體將所述測試散熱器以及待測功率半導體器件固定在器件測試支撐連接體上。

所述測試工位測試連接體垂直分布于老化板體上，測試工位測試連接體為彈簧針或夾片針。

所述器件測試支撐連接體上設置用于與待測功率半導體器件適配連接的器件定位連接塊，所述器件定位連接塊凸設于器件測試支撐連接體上，且在器件定位連接塊上設置器件固定孔；

待測功率半導體器件上具有對稱分布的器件耳片，且在所述器件耳片上設置貫通所述器件耳片的耳片連接孔，手擰螺絲體依次穿過測試散熱器以及耳片連接孔后進入器件固定孔內，以通過手擰螺絲體將所述測試散熱器以及待測功率半導體器件固定在器件測試支撐連接體上。

在所述器件測試支撐連接體上設置若干允許待測功率半導體器件上的器件支撐連接定位塊嵌置的器件放置定位導向槽，所述器件放置定位導向槽分布于器件定位連接塊的兩側；