[實用新型]渦殼端面及環形臺階的外徑測量用具

有效

• 申請號: 202220207453.1
• 申請日: 2022-01-25
• 公開（公告）號: CN217110761U
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 范建軍;李睿;劉洋;沈一明
• 申請（專利權）人: 無錫市蠡湖鑄業有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 苗雨

本申請涉及渦殼檢測的領域，公開了渦殼端面及環形臺階的外徑測量用具，包括底板、第一檢測機構和第二檢測機構，所述第一檢測機構包括兩個第一測頭，所述第二檢測機構包括兩個第二測頭，每個所述第一測頭和所述第二測頭均通過轉接組件與所述底板滑動連接；同一個檢測機構中的一個轉接組件上連接有傳感器，另一個轉接組件上連接有接觸開關，所述傳感器和所述接觸開關保持抵觸，所述傳感器為彈性件且與所述接觸開關均與外界數顯設備相連。本申請中第一測頭抵觸渦殼端面處的外壁，第二測頭抵觸環形臺階的外壁，根據傳感器的變形量運算出環形臺階和端面外壁的外徑，并通過數顯設備顯示，檢測速度快、效率高，且不會劃傷渦殼。

技術領域

本申請涉及工裝的技術領域，尤其涉及渦殼端面及環形臺階的外徑測量用具。

背景技術

參照圖1，當前市面上設計有一種渦殼1，渦殼1的端面上成型有環形臺階11，且渦殼1的端面和環形臺階11同軸設置。在渦殼1的生產過程中，需要對渦殼1端面和環形臺階11的外徑進行檢測。

在生產過程中，檢測人員需要通過兩個卡板分別對渦殼端面和環形臺階的外徑進行檢測。并且，每個卡板只能檢測對應的尺寸合格與否，故而需要進行兩次檢驗，操作費時且容易對工件的表面造成劃傷。

實用新型內容

為了能夠快速檢測出渦殼端面及環形臺階外徑的尺寸，本申請的技術方案提供了渦殼端面及環形臺階的外徑測量用具。技術方案如下：

本申請提供了渦殼端面及環形臺階的外徑測量用具，包括底板、第一檢測機構和第二檢測機構，所述第一檢測機構包括兩個相對設置的第一測頭，所述第二檢測機構包括兩個相對設置的第二測頭，每個所述第一測頭和所述第二測頭均通過轉接組件與所述底板滑動連接；同一個檢測機構中的一個轉接組件上連接有傳感器，另一個轉接組件上連接有接觸開關，所述傳感器和所述接觸開關保持抵觸，所述傳感器為彈性件，所述傳感器與所述接觸開關均與外界數顯設備相連。

通過上述技術方案，測量時，兩個第一測頭抵觸渦殼端面處的外壁，兩個第二測頭抵觸環形臺階的外壁，外界設備根據第一檢測機構的傳感器和第二檢測機構的傳感器的變形量，運算得出環形臺階和端面外壁的外徑數據，并通過數顯設備進行數顯，操作便捷，檢測速度快、效率高，且不會劃傷渦殼，保證了渦殼的表面質量。

進一步地，所述傳感器包括依次相連的抵觸端、伸縮段和主體段，所述伸縮段呈波紋管狀設置，所述抵觸端與所述接觸開關抵接。

具體的，所述轉接組件包括連接于所述底板的安裝座、連接于所述底板的固定座、滑移連接于所述固定座的支撐座，所述支撐座被配置于與所述第一測頭或所述第二測頭相連。

特別地，所述轉接組件還包括彈性復位件，所述彈性復位件的一端抵觸所述固定座、另一端抵觸所述支撐座。

進一步地，所述底板上連接有罩設在所述第一檢測機構和所述第二檢測機構上的罩殼，所述罩殼上連接有被配置于放置渦殼的測量座，所述第一測頭和所述第二測頭均貫穿所述罩殼和所述測量座。

具體的，所述底板上連接有支撐柱，所述支撐柱的頂端抵觸所述測量座的下表面。

特別地，所述測量座呈環形，所述測量座的內壁與環形臺階的外壁相適配。

本申請與現有技術相比所具有的有益效果是：測量時，將渦殼放置在測量座上，渦殼的端面抵觸測量座的上表面，環形臺階位于測量座內。此時，彈性復位件和波紋段均產生彈性變形，第一測頭和第二測頭滑動，直至兩個第一測頭抵觸渦殼端面處的外壁，兩個第二測頭抵觸環形臺階的外壁。外界設備根據第一檢測機構的波紋段和第二檢測機構的波紋段的變形量，運算得出環形臺階和端面外壁的外徑數據，并通過數顯設備進行數顯，操作便捷，檢測速度快、效率高，且不會劃傷渦殼，保證了渦殼的表面質量。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成說明書的一部分，示出了符合本申請的實施例，并與說明書一起用于解釋本申請的原理，其中：