[發(fā)明專利]適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法、裝置、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211646099.3 | 申請(qǐng)日： | 2022-12-21 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN116341427A | 公開（公告）日： | 2023-06-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 梁永元;黃明強(qiáng) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 珠海一微半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G06F30/33 | 分類號(hào)： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 519000 廣東省珠海*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 適用 不同 ate 平臺(tái) 芯片 測試 方法 裝置 系統(tǒng) 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述測試方法具體包括：
基于ATE平臺(tái)的類型以及ATE平臺(tái)向量庫，上位機(jī)將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，得到平臺(tái)化后的測試程序，然后通過ATE平臺(tái)將ATE平臺(tái)處理后的測試程序傳輸給待測芯片以進(jìn)行芯片測試；其中，平臺(tái)化后的測試程序滿足當(dāng)前ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述ATE平臺(tái)向量庫至少包括93K?ATE平臺(tái)化函數(shù)、J750?ATE平臺(tái)化函數(shù)以及3380D?ATE平臺(tái)化函數(shù)中的一種。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述上位機(jī)將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，得到平臺(tái)化后的測試程序的方法具體包括：
上位機(jī)檢測當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型，然后根據(jù)當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型調(diào)用ATE平臺(tái)向量庫中的93K?ATE平臺(tái)化函數(shù)或者J750?ATE平臺(tái)化函數(shù)或者3380D?ATE平臺(tái)化函數(shù)，在測試程序的代碼列的列前和/或列后插入指定的指令列、時(shí)間列和/或符號(hào)列，得到平臺(tái)化后的測試程序；其中，平臺(tái)化后的測試程序滿足當(dāng)前ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述上位機(jī)將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，得到平臺(tái)化后的測試程序的方法具體包括：
步驟A1，上位機(jī)檢測當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型，當(dāng)檢測到當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型是93K?ATE平臺(tái)時(shí)，進(jìn)入步驟A2；
步驟A2，上位機(jī)在測試程序的代碼列的列前插入時(shí)間列，然后進(jìn)入步驟A3；
步驟A3，上位機(jī)在時(shí)間列的列前插入指令列，得到平臺(tái)化后的測試程序；其中，平臺(tái)化后的測試程序滿足93K?ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述上位機(jī)將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，得到平臺(tái)化后的測試程序的方法具體包括：
步驟B1，上位機(jī)檢測當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型，當(dāng)檢測到當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型是J750?ATE平臺(tái)時(shí)，進(jìn)入步驟B2；
步驟B2，上位機(jī)在測試程序的代碼列的列前插入時(shí)間列，然后進(jìn)入步驟B3；
步驟B3，上位機(jī)在時(shí)間列的列前插入第一符號(hào)列，然后進(jìn)入步驟B4；
步驟B4，上位機(jī)在第一符號(hào)列的列前插入指令列，然后進(jìn)入步驟B5；
步驟B5，上位機(jī)在代碼列的列后插入第二符號(hào)列，得到平臺(tái)化后的測試程序；其中，平臺(tái)化后的測試程序滿足J750?ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，其特征在于，所述上位機(jī)將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，得到平臺(tái)化后的測試程序的方法具體包括：
步驟C1，上位機(jī)檢測當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型，當(dāng)檢測到當(dāng)前ATE平臺(tái)的類型是3380D?ATE平臺(tái)時(shí)，進(jìn)入步驟C2；
步驟C2，上位機(jī)在測試程序的代碼列的列前插入第一符號(hào)列，然后進(jìn)入步驟C3；
步驟C3，上位機(jī)在代碼列的列后插入第二符號(hào)列，然后進(jìn)入步驟C4；
步驟C4，上位機(jī)在第二符號(hào)列的列后插入指令列，得到平臺(tái)化后的測試程序；其中，平臺(tái)化后的測試程序滿足3380D?ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求。
7.適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試裝置，其特征在于，所述裝置用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試方法，所述裝置包括上位機(jī)和ATE平臺(tái)，其中，
所述上位機(jī)包括ATE平臺(tái)向量庫，所述ATE平臺(tái)向量庫用于將測試程序進(jìn)行平臺(tái)化，平臺(tái)化后的測試程序滿足當(dāng)前ATE平臺(tái)的運(yùn)行格式要求，所述上位機(jī)跟ATE平臺(tái)連接，將平臺(tái)化后的測試程序發(fā)送給ATE平臺(tái)運(yùn)行；
所述ATE平臺(tái)跟所述上位機(jī)連接，接收并處理平臺(tái)化后的測試程序之后，將其發(fā)送給待測芯片以進(jìn)行芯片測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的適用不同ATE平臺(tái)的芯片測試裝置，其特征在于，所述上位機(jī)與所述ATE平臺(tái)之間通過GPIB接口或者USB接口進(jìn)行通信。
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