[發明專利]一種分辨率板、分辨率測試系統及測量分辨能力的方法

在審

• 申請號: 202211528318.8
• 申請日: 2022-11-30
• 公開（公告）號: CN115876440A
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 石桓通;王一竹;陳立;吳堅;李興文;鄧云坤;彭晶;趙現平;王科
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01T1/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 陳翠蘭

1.一種分辨率板，其特征在于，包括：

板體(1)，所述板體上設置有至少一組狹縫組(11)，所述狹縫組(11)包括沿一路徑貫穿在所述板體上的兩條平行設置的狹縫(111)，所述狹縫(111)在垂直于其開設路徑的方向具有寬度，所述狹縫(11)沿其開設路徑的方向等寬設置，所述兩條狹縫(11)的外形和寬度一致，所述兩條狹縫(11)間隔設置，且所述兩條狹縫(11)的間距等于所述狹縫(11)的寬度。

2.根據權利要求1所述的分辨率板，其特征在于，所述板體(1)上設置有四組所述狹縫組(11)，每個所述狹縫組(11)均包括有兩個所述狹縫(111)，四組所述狹縫組(11)對應的所述狹縫(111)的寬度由低到高依次增加。

3.根據權利要求2所述的分辨率板，其特征在于，將四組所述狹縫組(11)按照對應的所述狹縫(111)的寬度從小到大，或者從大到小的方式排布在所述板體(1)上。

4.根據權利要求2所述的分辨率板，其特征在于，所述狹縫(111)包括兩個對稱設置的子縫，所述子縫自所述板體(1)上的一端作為首端，沿半圓形軌跡開設在所述板體(1)上，兩個所述子縫的首端以及另外一端分別對應正對且間隔設置。

5.根據權利要求4所述的分辨率板，其特征在于，四組所述狹縫組(11)對應的所述狹縫(111)同圓心設置在所述板體(1)上。

6.根據權利要求5所述的分辨率板，其特征在于，所述板體(1)上于半徑最小的所述狹縫的(111)內部還設置有一組直線型狹縫組(12)，直線型狹縫組(12)包括兩個直線型狹縫(121)，所述直線型狹縫(121)的寬度與半徑最小的所述狹縫(111)的寬度一致。

7.根據權利要求2-6任一項所述的分辨率板，其特征在于，四組所述狹縫(11)的寬度從小到大依次為0.2mm、0.25mm、0.3mm以及0.5mm。

8.一種分辨率測試系統，其特征在于，包括：

成像板(2)，采用閃爍體制成；以及

如權利要求1-7任一項所述的分辨率板。

9.一種采用權利要求8所述的分辨率測試系統測量分辨能力的方法，其特征在于，包括：

將所述分辨率板放置于射線點源和成像板之間，設定分辨率板與射線點源之間距離為x1，設定分辨率板與成像板之間距離為x2，以得出放大比M＝(x1+x2)/x1；

將射線點源朝向所述分辨率板照射高X能射線，以在所述成像板上形成至少一組像組，所述像組包括兩條寬度相同的具有灰度的條帶；

測量同一組所述像組中兩條所述條帶的中心位置的灰度值f2以及測量位于兩條所述條帶之間的區域的中心位置的灰度值f1，計算出光強比f1/f2；

設定所述狹縫的寬度為d，根據所述光強比、所述狹縫的寬度以及所述放大比之間的關系，繪制曲線圖。

10.根據權利要求1所述的測量分辨能力的方法，其特征在于，所述設定所述狹縫的寬度為d，根據所述光強比，所述狹縫的寬度以及所述放大比之間的關系，繪制曲線圖的步驟，包括：

得出所述狹縫的寬度與所述放大比的乘積式d*(M/M-1)，以所述乘積式的值為橫坐標，以與所述乘積式的值對應的所述光強比的值為縱坐標，在二維坐標系上對應得出一個坐標點；

改變放大比，以在二維坐標系上得出多個坐標點，將所述多個坐標點依次連接形成所述曲線圖。