[發明專利]一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置

在審

• 申請號: 202211480386.1
• 申請日: 2022-11-24
• 公開（公告）號: CN115753800A
• 公開（公告）日: 2023-03-07
• 發明（設計）人: 陳增標;林亮中;余洪文;余振標;張超;李良鈺;姜玉林
• 申請（專利權）人: 中山職業技術學院
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 何嘉杰

本發明公開了一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置，包括激光發射件、分光件、第一光感應件、可變光程組件、光衰減組件、第二光感應件以及差分處理模塊，激光發射件與分光件的輸入端對接，第一光感應件與分光件的第一輸出端對接，可變光程組件內活動設有反光鏡，分光件的第二輸出端與反光鏡對接，光衰減組件的輸入端與反光鏡對接，光衰減組件的輸出端用于與待測光纖的一端對接，第二光感應件用于與待測光纖的另一端對接，反光鏡活動能夠調節第二支路激光于待測光纖中的傳輸位置，差分處理模塊的第一輸入端與第一光感應件連接，差分處理模塊的第二輸入端與第二光感應件連接，差分處理模塊能夠形成檢測數據輸出，提高分析判斷的準確性。

技術領域

本發明涉及光纖質量檢測設備技術領域，特別涉及一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置。

背景技術

現有的光纖裂紋檢測裝置，包括激光發射件、可變光程件以及感光件，激光發射件發射激光至可變光程件，可變光程件將激光反射并從光纖的一端射入，感光件從光纖的另一端接收射出的激光，以用于對光纖質量的判斷，然而，經過可變光程件的調節，感光件接收的激光的光功率較大，導致分析存在困難，判斷結果不準確。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置，提高分析判斷的準確性。

根據本發明的第一方面實施例的一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置，包括：激光發射件；分光件，包括輸入端、第一輸出端以及第二輸出端，所述激光發射件與所述分光件的輸入端對接以能夠將主路激光射入所述分光件的輸入端，所述分光件用于將主路激光分光處理成第一支路激光和第二支路激光；第一光感應件，與所述分光件的第一輸出端對接以獲取第一支路激光并生成第一感應信號；可變光程組件，內活動設有反光鏡，所述分光件的第二輸出端與所述反光鏡對接；光衰減組件，包括輸入端以及輸出端，所述光衰減組件的輸入端與所述反光鏡對接，所述光衰減組件的輸出端用于與待測光纖的一端對接；第二光感應件，用于與所述待測光纖的另一端對接，第二支路激光經過所述反光鏡、所述光衰減組件以及待測光纖后被所述第二光感應件獲取，并且所述第二光感應件生成第二感應信號，其中，反光鏡活動能夠調節第二支路激光于待測光纖中的傳輸位置；差分處理模塊，包括第一輸入端、第二輸入端以及輸出端，所述差分處理模塊的第一輸入端與所述第一光感應件連接，所述差分處理模塊的第二輸入端與所述第二光感應件連接，所述差分處理模塊將所述第一感應信號和所述第二感應信號比對以形成檢測數據輸出。

根據本發明實施例的一種自動功率補償的光纖裂紋檢測裝置，至少具有如下有益效果：

本發明光纖裂紋檢測裝置，激光發射件發出的主路激光經過分光件分光處理成第一支路激光和第二支路激光，第一光感應件獲取第一支路激光并生成第一感應信號，輸出至差分處理模塊作為樣本信號，而第二支路激光則經過所述反光鏡、所述光衰減組件以及待測光纖后被所述第二光感應件獲取，活動調節反光鏡，可以使得第二支路激光在待測光纖中的傳輸路徑不同，檢測位置也相應地不同，從而可以檢測光纖中各個位置，在第二支路激光從待測光纖的另一端輸出，第二光感應件獲取并生成第二感應信號，差分處理模塊將所述第一感應信號和所述第二感應信號比對，若存在差異，則證明待測光纖中存在裂紋等缺陷，而光衰減組件可以預先對進入待測光纖的第二支路激光進行光衰減處理，合理地降低第二支路激光的光功率，使得第二支路激光的光功率與第一支路激光的光功率適配，能夠更好地比對，提高分析判斷的準確性。

根據本發明的一些實施例，還包括調節模塊，所述調節模塊與所述光衰減組件電連接以能夠調節所述光衰減組件對第二支路激光的光衰減量。

根據本發明的一些實施例，所述調節模塊包括電壓調節單元，所述電壓調節單元能夠輸出至少兩個不同電壓大小的電壓控制信號至所述光衰減組件，所述光衰減組件根據電壓控制信號的電壓大小調節第二支路激光的光衰減量。