[發(fā)明專利]溫控機(jī)構(gòu)參數(shù)調(diào)節(jié)方法、裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211464038.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-11-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115718515A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-02-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡燦承;曹成范;曹鵬程 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05D23/22 | 分類號(hào): | G05D23/22 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐敏 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 溫控 機(jī)構(gòu) 參數(shù) 調(diào)節(jié) 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 | ||
1.一種溫控機(jī)構(gòu)參數(shù)調(diào)節(jié)方法,其特征在于,所述方法包括:
建立密閉測(cè)試環(huán)境,待測(cè)溫控機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述密閉測(cè)試環(huán)境中,所述密閉測(cè)試環(huán)境內(nèi)維持設(shè)定露點(diǎn);
在所述溫控機(jī)構(gòu)處于加熱模式下,采集所述溫控機(jī)構(gòu)的載臺(tái)的升溫溫度數(shù)據(jù),以及根據(jù)所述溫控機(jī)構(gòu)的輸出數(shù)據(jù)獲取升溫預(yù)期數(shù)據(jù);
在所述溫控機(jī)構(gòu)處于制冷模式下,采集所述溫控機(jī)構(gòu)的載臺(tái)的降溫溫度數(shù)據(jù),以及根據(jù)所述溫控機(jī)構(gòu)的輸出數(shù)據(jù)獲取降溫預(yù)期數(shù)據(jù);
根據(jù)所述升溫溫度數(shù)據(jù)和所述升溫預(yù)期數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)所述溫控機(jī)構(gòu)的加熱參數(shù),以及根據(jù)所述降溫溫度數(shù)據(jù)和所述降溫預(yù)期數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)所述溫控機(jī)構(gòu)的制冷參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立密閉測(cè)試環(huán)境包括:
向所述密閉測(cè)試環(huán)境中注入干燥的氣體,使得所述密閉測(cè)試環(huán)境內(nèi)露點(diǎn)值維持-30℃。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述密閉測(cè)試環(huán)境內(nèi)設(shè)有冷卻循環(huán)設(shè)備,所述冷卻循環(huán)設(shè)備用于為所述溫控機(jī)構(gòu)的制冷組件降溫,所述方法還包括:
在所述溫控機(jī)構(gòu)處于加熱模式下或制冷模式下,啟動(dòng)所述冷卻循環(huán)設(shè)備;
監(jiān)測(cè)所述溫控機(jī)構(gòu)的制冷組件的溫度,并根據(jù)所述制冷組件的溫度調(diào)節(jié)所述冷卻循環(huán)設(shè)備的工作參數(shù),使得所述制冷組件的溫度不超過(guò)高溫閾值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
在所述冷卻循環(huán)設(shè)備處于啟動(dòng)狀態(tài)下,采集所述冷卻循環(huán)設(shè)備的出水管溫度和進(jìn)水管溫度;
根據(jù)所述出水管溫度和進(jìn)水管溫度調(diào)節(jié)所述溫控機(jī)構(gòu)的制冷參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述制冷組件包括第一半導(dǎo)體制冷芯片和第二半導(dǎo)體制冷芯片,所述第一半導(dǎo)體制冷芯片的制冷側(cè)用于為所述載臺(tái)制冷,所述第一半導(dǎo)體制冷芯片的散熱側(cè)與所述第二半導(dǎo)體體制冷芯片的制冷側(cè)貼合設(shè)置,所述冷卻循環(huán)設(shè)備設(shè)置在所述第二半導(dǎo)體制冷芯片的散熱側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述采集所述溫控機(jī)構(gòu)的載臺(tái)的升溫溫度數(shù)據(jù)包括:
采集所述載臺(tái)上測(cè)溫陣列的升溫溫度數(shù)據(jù),所述測(cè)溫陣列包括若干測(cè)溫點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,通過(guò)熱電偶采集所述升溫溫度數(shù)據(jù)和所述降溫溫度數(shù)據(jù)。
8.一種溫控機(jī)構(gòu)參數(shù)調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,所述裝置包括:
環(huán)境建立模塊,用于建立密閉測(cè)試環(huán)境,溫控機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述密閉測(cè)試環(huán)境中,所述密閉測(cè)試環(huán)境內(nèi)維持設(shè)定露點(diǎn);
升溫驗(yàn)證模塊,用于在所述溫控機(jī)構(gòu)處于加熱模式下,采集所述溫控機(jī)構(gòu)的載臺(tái)的升溫溫度數(shù)據(jù),以及根據(jù)所述溫控機(jī)構(gòu)的輸出數(shù)據(jù)獲取升溫預(yù)期數(shù)據(jù);
降溫驗(yàn)證模塊,用于在所述溫控機(jī)構(gòu)處于制冷模式下,采集所述溫控機(jī)構(gòu)的載臺(tái)的降溫溫度數(shù)據(jù),以及根據(jù)所述溫控機(jī)構(gòu)的輸出數(shù)據(jù)獲取降溫預(yù)期數(shù)據(jù);
參數(shù)調(diào)節(jié)模塊,用于根據(jù)所述升溫溫度數(shù)據(jù)和所述升溫預(yù)期數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)所述溫控機(jī)構(gòu)的加熱參數(shù),以及根據(jù)所述降溫溫度數(shù)據(jù)和所述降溫預(yù)期數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)所述溫控機(jī)構(gòu)的制冷參數(shù)。
9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。
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