[發(fā)明專利]具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器及設計方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211411439.4 | 申請日: | 2022-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN115765679A | 公開(公告)日: | 2023-03-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李想;徐照旭;蔡喆;劉帥;杜明 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十研究所 |
| 主分類號: | H03H11/24 | 分類號: | H03H11/24;H03H11/16;H03F1/30 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知識產(chǎn)權代理有限公司 51214 | 代理人: | 周浩杰 |
| 地址: | 610000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 幅度 校準 功能 附加 相移 數(shù)控 衰減器 設計 方法 | ||
1.一種具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,包括多個不同衰減量的衰減單元,且不同衰減量的衰減單元分別級聯(lián)在一起;以及包括幅度誤差校準單元和相移補償單元,所述幅度誤差校準單元與衰減單元連接,且用于與衰減單元組合實現(xiàn)所需的衰減位,補償幅度誤差;所述相移補償單元,用于對附加相移進行補償。
2.根據(jù)權利要求1所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,各個所述衰減單元之間還包含匹配電感,用于提高各個衰減位的級間阻抗匹配性能。
3.根據(jù)權利要求1所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,所述多個不同衰減量的衰減單元,從輸入到輸出依次為0.5dB衰減單元一(1),4dB衰減單元(2),7.5dB衰減單元(3),0.5dB幅度誤差校準衰減單元一(4),2dB衰減單元(5),0.5dB衰減單元二(6),0.5dB幅度誤差校準衰減單元二(7)和1dB幅度誤差校準單元(8);0.5dB衰減單元二(6)和0.5dB幅度誤差校準衰減單元二(7)組成1dB衰減單元;0.5dB衰減單元(1)和1dB衰減單元均通過開關嵌入式T型衰減電路結構實現(xiàn),2dB衰減單元(5)和4dB衰減單元(2)均通過開關嵌入式T型衰減電路結構實現(xiàn),7.5dB衰減單元(3)通過開關嵌入式Π型衰減電路結構實現(xiàn);0.5dB衰減單元二(6)和0.5dB幅度誤差校準衰減單元二(7)組合實現(xiàn)1dB衰減位,7.5dB衰減單元(3)和0.5dB幅度誤差校準衰減單元一(4)組合實現(xiàn)8dB衰減位,1dB幅度誤差校準單元(8)為增加的幅度誤差校準單元,共能夠?qū)崿F(xiàn)±1dB的衰減幅度誤差校準功能。
4.根據(jù)權利要求3所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,在4dB衰減單元(2)、7.5dB衰減單元(3)和2dB衰減單元(5)中的電路中均設置有相應所述相移補償單元,分別用于對4dB衰減單元(2)、7.5dB衰減單元(3)和2dB衰減單元(5)衰減時的附加相移進行補償,實現(xiàn)數(shù)控衰減衰減附加相移的降低。
5.根據(jù)權利要求4所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,所述相移補償單元為并聯(lián)電容,且連接在串聯(lián)電阻RP上。
6.根據(jù)權利要求3所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,1個7.5dB衰減單元(3)加1個0.5dB幅度誤差校準衰減單元一(4)組成8dB衰減單元。
7.根據(jù)權利要求3所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,各個所述衰減單元之間包含的匹配電感,總數(shù)量為6個。
8.根據(jù)權利要求3所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,所述開關嵌入式T型衰減電路結構包括并聯(lián)MOS開關晶體管M2,MOS開關管控制端串聯(lián)電阻RG,MOS開關管體端串聯(lián)電阻RB,并聯(lián)衰減電阻RP;所述開關嵌入式Π型衰減電路結構包括串聯(lián)MOS開關晶體管M1,MOS開關管控制端串聯(lián)電阻RG,MOS開關管體端串聯(lián)電阻RB,串聯(lián)衰減電阻RS,并聯(lián)衰減電阻RP,并聯(lián)電容Ccomp,并聯(lián)MOS開關晶體管M2。
9.根據(jù)權利要求7所述的具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器,其特征在于,6個匹配電感分別為L1~L6,且L1=L6=100pH,L2=L5=90pH,L3=L4=70pH。
10.一種具有幅度校準功能的低附加相移數(shù)控衰減器的設計方法,其特征在于,根據(jù)數(shù)控衰減器所選用的芯片工藝PVT變化所帶來的衰減幅度誤差變化情況,對衰減幅度誤差變化大于設定值的衰減單元進行拆分,并增加幅度誤差校準單元,再配合附加相移電容補償,設計得到高衰減精度和低附加相移的數(shù)控衰減器;所述數(shù)控衰減器包括毫米波硅基數(shù)控衰減器,且所述毫米波硅基數(shù)控衰減器包括基于硅基65nm CMOS工藝實現(xiàn)得到的衰減幅度誤差可校準的數(shù)控衰減器。
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