[發(fā)明專利]一種鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211330568.0
• 申請(qǐng)日: 2022-10-28
• 公開（公告）號(hào): CN115393359A
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李雪梅;袁帥鵬;杜英;張瑞強(qiáng);劉洋;王振坤;曹彬;胡江洪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 菲特（天津）檢測(cè)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/136;G06T7/155;G06T5/20;G06T5/30;G01N21/958;G01N21/88
• 代理公司: 天津知川知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 12249
• 代理人: 胡翠

1.一種鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、獲取圖像，所述圖像包括帶有擺爪背景的鏡片圖像；

S2、對(duì)圖像進(jìn)行如下處理：

首先進(jìn)行閾值分割，將擺爪在鏡片中的區(qū)域提取出來，將提取的擺爪區(qū)域進(jìn)行均值濾波、動(dòng)態(tài)閾值分割及形態(tài)學(xué)運(yùn)算，根據(jù)面積預(yù)設(shè)閾值條件，將擺爪區(qū)域中的缺陷提取出來；

然后再對(duì)擺爪區(qū)域進(jìn)行高斯濾波，將圖像與高斯函數(shù)卷積提取缺陷；

最后將兩次提取的缺陷進(jìn)行合并，得到此擺爪區(qū)域內(nèi)的所有缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理方法，其特征在于，所述S1具體為：將鏡片置于平行光源和相機(jī)之間，在鏡片和平行光源之間設(shè)置擺爪，所述擺爪包括位于同一平面上的M根結(jié)構(gòu)相同的擺爪片；M為大于1的自然數(shù)；在鏡片上設(shè)置位置標(biāo)識(shí)；步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)擺爪進(jìn)行擺動(dòng)；在擺動(dòng)過程中采集圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理方法，其特征在于，相機(jī)鏡頭的相機(jī)幀率為30fps。

4.一種鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理系統(tǒng)，其特征在于，包括如下步驟：

圖像獲取模塊：獲取圖像，所述圖像包括帶有擺爪背景的鏡片圖像；

圖像處理模塊：對(duì)圖像進(jìn)行如下處理：

首先進(jìn)行閾值分割，將擺爪在鏡片中的區(qū)域提取出來，將提取的擺爪區(qū)域進(jìn)行均值濾波、動(dòng)態(tài)閾值分割及形態(tài)學(xué)運(yùn)算，根據(jù)面積預(yù)設(shè)閾值條件，將擺爪區(qū)域中的缺陷提取出來；

然后再對(duì)擺爪區(qū)域進(jìn)行高斯濾波，將圖像與高斯函數(shù)卷積提取缺陷；

最后將兩次提取的缺陷進(jìn)行合并，得到此擺爪區(qū)域內(nèi)的所有缺陷。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像獲取模塊的工作過程為：將鏡片置于平行光源和相機(jī)之間，在鏡片和平行光源之間設(shè)置擺爪，所述擺爪包括位于同一平面上的M根結(jié)構(gòu)相同的擺爪片；M為大于1的自然數(shù)；在鏡片上設(shè)置位置標(biāo)識(shí)；步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)擺爪進(jìn)行擺動(dòng)；在擺動(dòng)過程中采集圖像。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述鏡片表面缺陷檢測(cè)用的圖像處理系統(tǒng)，其特征在于，相機(jī)鏡頭的相機(jī)幀率為30fps。