[發明專利]過零檢測電路、控制方法及控制裝置

在審

• 申請號: 202211245992.5
• 申請日: 2022-10-12
• 公開（公告）號: CN115480093A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 馮俊杰;張秋俊;巨姍;胡紫嫣;高巖;郗浩然
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01R19/175
• 分類號: G01R19/175;H02H1/00;H02H7/22
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 金淼;陳超德

1.一種過零檢測電路，其特征在于，包括：第一三極管、第二三極管、第一光耦和第二光耦，所述第一三極管的基極用于接收控制信號，所述第一三極管的集電極接地，所述第一三極管的發射極與所述第一光耦的發光二極管的負極連接，所述第一光耦的發光二極管的正極接芯片電源，所述第一光耦的雙向可控硅的第一端用于連接交流電源的火線，所述述第一光耦的雙向可控硅的第二端與第二光耦的發光二極管的正極連接，所述第二光耦的發光二極管的負極用于接所述交流電源的零線，所述第二光耦的光電三極管的發射極與所述芯片電源、過零檢測接口和所述第二三極管的集電極連接，所述第二光耦的光電三極管的集電極接所述第二三極管的基極，所述第二三極管的發射極接地。

2.根據權利要求1所述的過零檢測電路，其特征在于，所述過零檢測電路還包括：二極管，所述二極管的正極與所述交流電源的零線連接，所述二極管的負極與所述第二光耦的發光二極管的正極連接。

3.根據權利要求1所述的過零檢測電路，其特征在于，所述過零檢測電路還包括：第一電阻、第二電阻，其中，所述零線通過所述第二電阻與第二光耦的發光二極管的負極連接，所述火線通過第一電阻與所述第一光耦的雙向可控硅的第一端連接。

4.根據權利要求1所述的過零檢測電路，其特征在于，所述過零檢測電路還包括：第三電阻、第四電阻，其中，所述第一光耦的發光二極管的負極通過所述第三電阻與第一三極管的發射極連接，所述第二光耦的光電三極管的發射極通過第四電阻連接第二三極管的集電極。

5.根據權利要求1所述的過零檢測電路，其特征在于，所述過零檢測電路還包括：第五電阻和第六電阻，所述控制信號通過所述第六電阻傳輸給第一三極管的基極，所述第二光耦的光電三極管的集電極通過第五電阻連接所述第二三極管的基極。

6.一種控制方法，其特征在于，應用于權利要求1至5任一項所述的過零檢測電路，所述方法包括：

在確定需要控制電器的繼電器執行開關動作的情況下，輸出預設時長的高電平的控制信號至所述過零檢測電路，其中，預設時長對應至少一個交流電的正弦波周期；

獲取所述過零檢測接口的檢查信號；

在所述檢查信號表征由低電平轉變為高電平的情況下，控制所述繼電器執行開關動作。

7.根據權利要求6所述的控制方法，其特征在于，所述方法還包括：

在確定不需要控制繼電器執行開關動作的情況下，持續輸出低電平信號的控制信號至所述過零檢測電路。

8.一種控制裝置，其特征在于，應用于權利要求1至5任一項所述的過零檢測電路，包括：

輸出模塊，用于在確定需要控制電器的繼電器執行開關動作的情況下，輸出預設時長的高電平的控制信號至所述過零檢測電路，其中，預設時長對應至少一個交流電正弦波周期；

獲取模塊，用于獲取所述過零檢測接口的檢查信號；

控制模塊，用于在所述檢查信號表征所述過零檢測接口的電平由低電平轉變為高電平的情況下，控制所述繼電器執行開關動作。

9.一種電子設備，其特征在于，包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有計算機程序，該計算機程序被所述處理器執行時，執行如權利要求6至7任意一項所述控制方法。

10.一種控制系統，其特征在于，包括：權利要求1至5任一項所述的過零檢測電路及權利要求9所述的電子設備，其中，所述電子設備的輸出端與所述第一三極管的基極連接，所述電子設備的輸入端與所述過零檢測接口連接，其中，所述電子設備與電器的繼電器連接。

11.一種電器，其特征在于，包括：權利要求10所述的控制系統。

12.根據權利要求11所述的電器，其特征在于，所述電器包括：蒸烤箱。

13.一種存儲介質，其特征在于，該存儲介質存儲的計算機程序，能夠被一個或多個處理器執行，能夠用來實現如權利要求6至7任意一項所述控制方法。