[發明專利]一種二極管老煉試驗故障排除方法及二極管老煉試驗系統

在審

• 申請號: 202211233227.1
• 申請日: 2022-10-10
• 公開（公告）號: CN115308560A
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 徐廣文;夏澤平;丁辰野;徐感恩;李凱旗
• 申請（專利權）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 四川中代知識產權代理有限公司 51358
• 代理人: 李康

1.一種二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，包括：

將若干二極管串聯構成恒流回路，并將若干所述恒流回路并聯構成老煉試驗回路；

設定老煉電壓；

獲取每個二極管的實際電壓和每個所述恒流回路的實際電流，根據所述老煉電壓、所述實際電壓和所述實際電流排除試驗故障；所述試驗故障包括：安裝錯誤、接觸不良、電壓錯誤和二極管損壞中的至少一者。

2.根據權利要求1所述的二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，所述二極管老煉試驗故障排除方法還包括：設置第一電流閾值和第一電壓閾值；

根據所述老煉電壓、實際電壓和所述實際電流排除所述試驗故障的過程中，若有恒流回路的所述實際電流小于或等于所述第一電流閾值，且在該恒流回路中，從某個二極管開始所述實際電壓均小于或等于所述第一電壓閾值，則檢查所述實際電壓小于或等于所述第一電壓閾值的第一個二極管是否安裝錯誤。

3.根據權利要求1所述的二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，所述二極管老煉試驗故障排除方法還包括：設置第二電壓閾值；

根據所述老煉電壓、實際電壓和所述實際電流排除所述試驗故障的過程中，若所述實際電流正常，且在恒流回路中有某個二極管的所述實際電壓大于或等于所述第二電壓閾值，則檢查該二極管是否接觸不良。

4.根據權利要求1所述的二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，所述二極管老煉試驗故障排除方法還包括：設置第二電流閾值和第三電壓閾值；

根據所述老煉電壓、實際電壓和所述實際電流排除所述試驗故障的過程中，若全部所述恒流回路的所述實際電流均小于或等于所述第二電流閾值，且全部二極管的所述實際電壓均大于或等于所述第三電壓閾值，則檢查所述老煉電壓是否設置正確。

5.根據權利要求1所述的二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，所述二極管老煉試驗故障排除方法還包括：設置第三電流閾值和第四電壓閾值；

根據所述老煉電壓、實際電壓和所述實際電流排除所述試驗故障的過程中，若有恒流回路的的所述實際電流小于或等于所述第三電流閾值，且該恒流回路中有某個二極管的所述實際電壓大于或等于所述第四電壓閾值，則檢查該二極管是否接觸不良。

6.根據權利要求2~5任一項所述的二極管老煉試驗故障排除方法，其特征在于，所述二極管老煉試驗故障排除方法還包括：

設置驗證電路，所述驗證電路串聯有標準二極管和控制開關，所述標準二極管與進行老煉試驗的二極管型號相同；

檢測到所述試驗故障時，在發生所述試驗故障的二極管處并聯所述驗證電路；

連通所述控制開關后，對所述試驗故障進行排查；消除所述所述試驗故障后，斷開所述控制開關，并將所述驗證電路拆下。

7.一種用于實現如權利要求1~6任一項所述的二極管老煉試驗故障排除方法的二極管老煉試驗系統，其特征在于，包括：終端控制計算機、MCU電路、恒流控制回路、老煉試驗回路和電流采樣電路；

所述老煉試驗回路與所述恒流控制回路電性連接，所述恒流控制回路與所述電流采樣電路電性連接，所述恒流控制回路和所述電流采樣電路均與所述MCU電路電性連接，所述MCU電路與所述終端控制計算機電性連接；

所述老煉試驗回路包括若干并聯的恒流回路，每個所述恒流回路中設置有若干串聯的用于安裝二極管的夾具，且每個所述恒流回路還設置有用于檢測每個二極管的實際電壓的電壓檢測模塊。

8.根據權利要求7所述的二極管老煉試驗系統，其特征在于，在所述恒流回路中，每個所述夾具的兩端均設置有第一電性連接部；

所述二極管老煉試驗系統還包括：驗證電路；

所述驗證電路串聯有標準二極管和控制開關，其中，所述標準二極管與進行老煉試驗的二極管型號相同；所述驗證電路的兩端具有用于與所述第一電性連接部連接的第二電性連接部。