[發明專利]基于邏輯分層的圖元渲染方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202211074643.1
• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN115439441A
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 安永值;韓春營
• 申請（專利權）人: 東方晶源微電子科技（北京）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06V10/764
• 代理公司: 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587
• 代理人: 李潔;魏文浩

本申請提供了一種基于邏輯分層的圖元渲染方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。該基于邏輯分層的圖元渲染方法，包括：根據業務對圖元進行分層分類；其中，各個分層分類后的圖元攜帶有對應的分層分類信息；基于每個圖元的分層分類信息，分別將每個圖元與對應的渲染操作進行關聯，得到對應的關聯信息；基于關聯信息，對目標圖元執行對應的渲染操作。根據本申請實施例，能夠解決現有技術中整體刷新渲染的問題。

技術領域

本申請屬于半導體領域，尤其涉及一種基于邏輯分層的圖元渲染方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

在半導體工藝中，生產線良率表征的是晶圓從下線到成功出廠的概率，晶圓良率表征的是一片晶圓上的芯片合格率，晶圓良率是完成所有工藝步驟后測試合格的芯片的數量與整片晶圓上的有效芯片的比值，而良率管理旨在為生產制造環節的缺陷分析、發現、定位、診斷提供直接、有效手段，對提高整個芯片生產制造的合格率，降低成本具有重要意義。

良率管理軟件，主要通過數據可視化方案為芯片廠不同機臺、不同批次、不同時段的多片晶圓提供發現缺陷的精確來源及影響因素，通過呈現晶圓缺陷趨勢表，晶圓缺陷分布圖、疊加多片、多層晶圓檢測圖等方法，以圖元為基本單元，包括點、線、文字、輔助文本以及標識性信息，構成數據分析視圖的主要部分。

通過選擇不同批次，不同機臺，不同晶圓的數據源，進行圖像缺陷的深度融合，而根據數據源變更，或用戶通過編輯而改變信息參量，此時需要同步刷新視圖中的所有圖元，傳統的刷新渲染方案，需要刷新整體視圖所有信息，或針對某窗體內圖元整體刷新渲染，在數據層面對圖元無區分對待。

對于通過圖像手段進行可視化展示的應用技術，通常將繪制、融合的圖像以窗口布局的方式展現于用戶，在進行數據變更或信息參量變化時，由于圖像所對應的數據未在數據層面進行區分，往往是以窗口為單位，去整體刷新圖像的所有元素。

在數據源發生變更或信息參量變化時，對于規模較大或圖元類型復雜且規模龐大時，整體的刷新渲染，存在以下問題：其一，將產生不必要的系統開銷；其二，在渲染耗時較長的情況下，整體重新渲染會大幅降低軟件的友好性及可用性；其三，從軟件層面上，整體刷新會額外增加軟件的魯棒性風險；其四，在有頻繁刷新重繪需求的情況，可能會產生閃屏現象，占用過高的CPU資源。

有鑒于此，提出本申請。

發明內容

本申請實施例提供一種基于邏輯分層的圖元渲染方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質，能夠解決現有技術中整體刷新渲染的問題。

第一方面，本申請實施例提供一種基于邏輯分層的圖元渲染方法，包括：

根據業務對圖元進行分層分類；其中，各個分層分類后的圖元攜帶有對應的分層分類信息；

基于每個圖元的分層分類信息，分別將每個圖元與對應的渲染操作進行關聯，得到對應的關聯信息；

基于關聯信息，對目標圖元執行對應的渲染操作。

進一步地，根據業務對圖元進行分層分類，包括：

在數據層面對圖元進行邏輯劃分，并確定不同圖元的分類信息；

對圖元進行層次分割，并確定不同圖元的層次分割信息；

其中，分層分類信息包括分類信息和層次分割信息。

進一步地，基于關聯信息，對目標圖元執行對應的渲染操作，包括：

利用軟件的渲染單元，按照關聯信息對目標圖元執行對應的渲染操作。

進一步地，在根據業務對圖元進行分層分類后，方法還包括：

在數據及信息參量發生變化時，更新分層分類信息；

基于更新后的分層分類信息，更新關聯信息；