[發明專利]一種平面顯示器檢測方法、裝置、電子設備及介質

在審

• 申請號: 202211026452.8
• 申請日: 2022-08-25
• 公開（公告）號: CN115424551A
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 韋文勇;齊斌斌
• 申請（專利權）人: 深圳市創元微電子科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 陳永軍

1.一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，包括：

基于平面顯示器的規格書確定電源輸出參數，并基于所述電源輸出參數確定電源誤差參數；

獲取用戶設定的電源保護參數和檢測時長；

在所述檢測時長內獲取所述平面顯示器的電源運行參數；

每隔第一預設時間判斷所述電源運行參數是否大于所述電源保護參數，每隔第二預設時間判斷所述電源運行參數是否大于所述電源誤差參數，所述第一預設時間大于所述第二預設時間，所述電源誤差參數小于所述電源保護參數；

若當前時刻所述電源運行參數大于所述電源誤差參數，則調整所述電源輸出參數；

若當前時刻所述電源運行參數大于所述電源保護參數，則控制所述平面顯示器停止運行。

2.根據權利要求1所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述調整所述電源輸出參數，包括：

基于所述電源運行參數和所述電源誤差參數計算偏差值；

循環執行確定當前的調整次數，基于所述調整次數和所述偏差值調整所述電源輸出參數，獲取調整后的電源運行參數，每隔所述第二預設時間判斷所述電源運行參數是否小于所述電源誤差參數的步驟，直至所述所述電源運行參數小于所述電源誤差參數。

3.根據權利要求2所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述基于所述調整次數和所述偏差值調整所述電源輸出參數，包括：

判斷所述調整次數是否小于預設次數，判斷所述偏差值是否小于預設值；

若不小于所述預設次數，且不小于所述預設值，則獲取第一調整范圍，基于第一調整范圍調整所述電源輸出參數；

若小于所述預設次數，和/或，小于所述預設值，則獲取第二調整范圍，基于第二調整范圍調整所述電源輸出參數，所述第二調整范圍比所述第一調整范圍小。

4.根據權利要求3所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述獲取第一調整范圍，之前還包括：

判斷所述調整次數是否大于異常次數，所述異常次數大于所述預設次數；

若大于，則控制所述平面顯示器停止運行。

5.根據權利要求2所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述獲取調整后的電源運行參數，之后還包括：

基于所述檢測時長和所述第一預設時間計算至少一個保護時刻；

判斷當前時刻是否為所述保護時刻；

若不為所述保護時刻，則判斷調整后的所述電源運行參數是否大于所述電源保護參數；

若大于所述電源保護參數，則控制所述平面顯示器停止運行。

6.根據權利要求1所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述控制所述平面顯示器停止運行，之后還包括：

輸出預警信息，所述預警信息用于提示工作人員對所述平面顯示器進行查看。

7.根據權利要求1所述的一種平面顯示器檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

基于所述檢測時長確定檢測完成時刻；

基于所述檢測完成時刻確定預設個數的參數校對時刻，所述參數校對時刻為所述檢測完成時刻之前的時刻；

獲取各個所述參數校對時刻對應的電源運行參數；

計算電源校對參數，所述電源校對參數為各個所述參數校對時刻對應的電源運行參數的平均值；

獲取所述規格書中的標準運行參數；

判斷所述電源校對參數和所述標準運行參數是否一致；

若不一致，則輸出不良信息，所述不良信息用于提示工作人員所述平面顯示器不合格。