[發明專利]一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法

在審

• 申請號: 202210998288.0
• 申請日: 2022-08-19
• 公開（公告）號: CN115524552A
• 公開（公告）日: 2022-12-27
• 發明（設計）人: 朱駿;高成;韓明波;李挺;王杰;孫玉光;高偉
• 申請（專利權）人: 北京華清瑞達科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 天津易企創知識產權代理事務所(普通合伙) 12242
• 代理人: 魏鳳程

本發明公開了一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法，包括如下步驟：建立電磁兼容測試暗室，將待測試的目標輻射陣列天線設于測試暗室內；發射狀態測試，在暗室內設置多個接收設備，將天線工作在發射狀態，不加任何環境干擾，獲取測試曲線并分析，確定天線的輻射方向、范圍以及強度參數；天線處于發射狀態時，對暗室施加輻射電磁干擾，再次通過接收設備獲取此時的天線的輻射方向、范圍以及強度參數；對比兩次獲取的接收參數，確定干擾差值和目標輻射陣列天線的抗電磁干擾等級。確定目標輻射陣列電磁兼容性，測試方法簡便易操作。

技術領域

本發明涉及電磁兼容測試技術領域，具體為一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法。

背景技術

在制導系統、系統參數調試與驗證、飛行試驗等過程中，信號的發射和接收精度需要較高的要求，目標輻射陣列天線在信號發射傳輸中會受到環境電磁干擾的影響，而目前的目標輻射陣列天線的電磁兼容性能未得到有效的測試和展現，針對上述問題，發明人提出一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法用于解決上述問題。

發明內容

為了解決目標輻射陣列天線在信號發射傳輸中會受到環境電磁干擾的影響，而目前的目標輻射陣列天線的電磁兼容性能未得到有效的測試和展現的問題；本發明的目的在于提供一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法。

為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：一種目標輻射陣列電磁兼容測試方法，包括如下步驟：

S1、建立電磁兼容測試暗室，將待測試的目標輻射陣列天線設于測試暗室內；

S2、發射狀態測試，在暗室內設置多個接收設備，將天線工作在發射狀態，不加任何環境干擾，獲取測試曲線并分析，確定天線的輻射方向、范圍以及強度參數；

S3、天線處于發射狀態時，對暗室施加輻射電磁干擾，再次通過接收設備獲取此時的天線的輻射方向、范圍以及強度參數；

S4、對比兩次獲取的接收參數，確定干擾差值和目標輻射陣列天線的抗電磁干擾等級。

優選的一種實施案例，所述電磁兼容測試暗室為EMC實驗室，并將測試區域進行抽真空，去除環境因素干擾。

優選的一種實施案例，步驟S2和步驟S3中，所述發射狀態為天線的RE102輻射發射量值范圍為30MHz-1GHz，不隨功耗的變化而有超出閾值的變化的狀態，且步驟S2和步驟S3中的發射狀態輻射發射量相同。

優選的一種實施案例，步驟S2和步驟S3中，所述接收裝置為距天線輻射發射位置以0.3m-2m為半徑，成環形架設輻射強度探頭，多個輻射強度探頭沿環形均勻分布，并包圍天線。

優選的一種實施案例，步驟S3中，輻射電磁干擾通過信號源、可調衰減器、功率放大器以及輻射陣列構成的發射模擬器，將電磁信號通過放大處理后對外發射形成電磁干擾，輻射限值為6-70dBμV/m。

優選的一種實施案例，步驟S4中，對比兩次獲取的接收參數的方法為：將未施加電磁干擾時多個接收裝置接收到的信號輻射強度與施加電磁干擾后接收到的電磁干擾強度進行對比，對比內容包括同一接收裝置接收到的輻射強度大小變化，以及兩次實驗中，成環形分布的多個接收裝置中，最大接收強度的裝置位置變化。

優選的一種實施案例，根據同一接收裝置接收到的輻射強度大小變化，取兩次實驗中接收強度的最大值和最小值進行分別對比，從而根據強度偏差確定電磁干擾對天線信號的輻射強度的影響，確定天線信號輻射強度的抗干擾性能。

優選的一種實施案例，根據最大接收強度的裝置位置變化，從而確定兩次實驗中，信號傳輸路徑受到電磁干擾后發生的偏轉影響，并再次基礎上，通過再次在不同位置發射電磁干擾確定天線信號發射路徑的抗干擾性能。

與現有技術相比，本發明的有益效果在于：