[發(fā)明專利]一種六面識(shí)別檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210973206.7
• 申請(qǐng)日: 2022-08-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115456951A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-12-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 袁梁
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 四川物通科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06V10/764;G06V10/82;G06T19/00;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 成都蓉創(chuàng)智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51276
• 代理人: 王巖巖

1.一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S1：獲取零部件產(chǎn)品樣本數(shù)據(jù)，包括各種不同缺陷的產(chǎn)品樣本以及產(chǎn)品樣本六個(gè)面的圖像；

S2：對(duì)產(chǎn)品樣本中的缺陷進(jìn)行標(biāo)注，對(duì)不同缺陷進(jìn)行分類并貼上相應(yīng)的標(biāo)簽；

S3：對(duì)所有產(chǎn)品樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行AI深度學(xué)習(xí)訓(xùn)練，建立本地的圖像識(shí)別模型，訓(xùn)練完成后能夠識(shí)別預(yù)先定義的不同缺陷的故障圖像；

S4：獲取合格零部件的實(shí)景圖像，并對(duì)實(shí)景圖像進(jìn)行前期處理，所述合格零部件的實(shí)景圖像包括待測(cè)零部件的六個(gè)面；

S5：對(duì)合格零部件的實(shí)景圖像的坐標(biāo)數(shù)據(jù)采用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法，在實(shí)景圖像上構(gòu)建虛擬圖像，所述虛擬圖像與實(shí)景圖像混合起到增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)的效果；

S6：對(duì)待檢測(cè)零部件執(zhí)行實(shí)時(shí)的圖像掃描，得到待檢測(cè)零部件的六個(gè)面的實(shí)時(shí)圖像；

S7：基于本地的圖像識(shí)別模型針對(duì)掃描到的實(shí)時(shí)圖像進(jìn)行圖像識(shí)別，判斷待檢測(cè)零部件是否存在缺陷，若存在缺陷，自動(dòng)識(shí)別故障類型并輸出相應(yīng)的標(biāo)簽，以及輸出虛擬圖像并在掃描到的實(shí)時(shí)圖像上增強(qiáng)顯示。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，所述不同缺陷包括但不限于顏色、破損以及尺寸。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，執(zhí)行S2時(shí)，包括以下步驟：

S21：收集客戶缺陷種類和檢測(cè)需求，規(guī)劃好分類方式；

S22：手動(dòng)標(biāo)注區(qū)域，區(qū)域按像素級(jí)別分割，分割區(qū)域合并后為檢測(cè)的整個(gè)產(chǎn)品；

S23：形狀復(fù)雜的區(qū)域可采用自動(dòng)提取制作標(biāo)簽方式繪制；

S24：標(biāo)注完成后保存到對(duì)應(yīng)分類標(biāo)簽中。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，執(zhí)行S3時(shí)，包括以下步驟：

S31：對(duì)不同缺陷的故障圖像執(zhí)行增強(qiáng)處理；

S32：獲取六個(gè)面的圖像的面積、長(zhǎng)度、寬度、像素比率、像素紋理分布以及灰度，并且將以上特征聚合為一個(gè)集合，作為特征集矢量；

S33：根據(jù)特征集矢量對(duì)各個(gè)特征進(jìn)行訓(xùn)練，確定模型參數(shù)；

S34：根據(jù)模型參數(shù)建立相應(yīng)的缺陷圖像模型；

S35：把建立的圖像模型存儲(chǔ)在系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫(kù)中。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，所述系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫(kù)中包括多個(gè)子數(shù)據(jù)庫(kù)，不同缺陷樣本的圖像模型存儲(chǔ)在不同的子數(shù)據(jù)庫(kù)中以進(jìn)行分類。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面識(shí)別檢測(cè)方法，其特征在于，執(zhí)行S3時(shí)，需要對(duì)相同缺陷的樣本進(jìn)行疊加學(xué)習(xí)，并且進(jìn)行學(xué)習(xí)反饋訓(xùn)練，直到反饋訓(xùn)練檢測(cè)準(zhǔn)確率達(dá)到99％以上，在學(xué)習(xí)過(guò)程中，還可以同時(shí)追加其他缺陷樣本進(jìn)行AI學(xué)習(xí)。