[發明專利]材料壽命確定方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202210946096.5
• 申請日: 2022-08-08
• 公開（公告）號: CN115479883A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 徐煥翔;金志利;陳梓鈞;趙振博;朱剛;劉子蓮;李銀樂;劉沛江
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01R31/00
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 帥夢媛

1.一種材料壽命確定方法，其特征在于，應用于5G天線高分子材料，所述方法包括：

獲取在屬于相同環境應力的不同環境參數下，分別對多組目標材料進行老化試驗而得到的與目標材料的多個關鍵特征分別對應的老化試驗時間；

基于所述與目標材料的多個關鍵特征分別對應的老化試驗時間，從所述多個關鍵特征中確定所述目標材料的敏感特征；

將每組環境參數下所述敏感特征所對應的老化試驗時間，作為所述目標材料的材料壽命，得到與各環境參數分別對應的材料壽命；

將各環境參數、以及各環境參數分別對應的材料壽命，輸入與所述環境應力對應的壽命加速模型，得到材料壽命與環境應力的對應關系；所述對應關系用于確定目標材料在目標環境參數下的材料壽命。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取目標材料的目標環境參數，將所述目標環境參數代入所述對應關系中，得到所述目標材料在目標環境參數下的材料壽命。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取在屬于相同環境應力的不同環境參數下，分別對多組目標材料進行老化試驗而得到的與目標材料的多個關鍵特征分別對應的老化試驗時間，包括：

指示將多組目標材料分別放置于不同的試驗環境中，以實現對目標材料進行老化試驗，其中，不同的試驗環境對應屬于相同環境應力的不同環境參數；

獲取在所述老化試驗的過程中所述目標材料的各個關鍵特征的特征值分別達到各自對應的臨界值所經歷的時間段，其中，目標材料的不同關鍵特征具有不同的臨界值；

將所述目標材料的各個關鍵特征的特征值分別達到各自對應的臨界值所經歷的時間段，作為各個關鍵特征的老化試驗時間；

所述基于所述與目標材料的多個關鍵特征分別對應的老化試驗時間，從所述多個關鍵特征中確定所述目標材料的敏感特征，包括：

將所述與目標材料的多個關鍵特征分別對應的老化試驗時間中最小老化試驗時間所對應的關鍵特征，確定為目標材料的敏感特征。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述目標材料的各個關鍵特征的特征值分別達到各自對應的臨界值所經歷的時間段，作為各個關鍵特征的老化試驗時間，包括：

在所述目標材料的其中一個關鍵特征為電磁波透過系數的情況下，將在所述老化試驗的過程中所述目標材料的電磁波透過系數的特征值減小至第一臨界值所經歷的時間段，確定為電磁波透過系數的老化試驗時間；

在所述目標材料的其中一個關鍵特征為介電常數的情況下，將在所述老化試驗的過程中所述目標材料的介電常數的特征值增大至第二臨界值所經歷的時間段，確定為介電常數的老化試驗時間；

在所述目標材料的其中一個關鍵特征為介電損耗的情況下，將在所述老化試驗的過程中所述目標材料的介電損耗的特征值增大至第三臨界值所經歷的時間段，確定為介電損耗的老化試驗時間；

在所述目標材料的其中一個關鍵特征為熱膨脹系數的情況下，將在所述老化試驗的過程中所述目標材料的熱膨脹系數的特征值增大至第四臨界值所經歷的時間段，確定為熱膨脹系數的老化試驗時間；

在所述目標材料的其中一個關鍵特征為電導率的情況下，將在所述老化試驗的過程中所述目標材料的電導率的特征值減小至第五臨界值所經歷的時間段，確定為電導率的老化試驗時間。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對應關系包括第一函數關系，所述將各環境參數、以及各環境參數分別對應的材料壽命，輸入與所述環境應力對應的壽命加速模型，得到材料壽命與環境應力的對應關系，包括：

在所述環境應力為溫度的情況下，將至少三組環境參數、以及與各環境參數分別對應的材料壽命，輸入第一壽命加速模型，所述第一壽命加速模型為材料壽命關于溫度的函數；

通過將所述第一壽命加速模型進行變換，得到材料壽命關于溫度的擬合直線方程；將所述至少三組環境參數、以及與各環境參數分別對應的材料壽命代入所述擬合直線方程，得到材料壽命與環境應力的第一函數關系。