[發(fā)明專利]一種全自動頂空進樣器

有效

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• 申請日: 2022-08-05
• 公開（公告）號: CN114994225B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設計）人: 郭浩偉;何星龍;王躍華;路鳳祎;宋欣;李世英;倪正正;趙若楠;王愛珍
• 申請（專利權）人: 河北華清環(huán)境科技集團股份有限公司;河北華清旭隆智能設備有限公司;河北雄安華清宏遠環(huán)境科技有限公司
• 主分類號: G01N30/24
• 分類號: G01N30/24;G01N30/06
• 代理公司: 石家莊領皓專利代理有限公司 13130
• 代理人: 郭紅偉

本發(fā)明涉及頂空進樣器技術領域，提出了一種全自動頂空進樣器，包括機殼，樣品盤轉動設置在機殼上，具有若干個第一放置孔；加熱箱設置在機殼內，位于樣品盤下方；進樣孔盤轉動設置在加熱箱內，進樣孔盤具有若干個第二放置孔，其中一個第二放置孔與其中一個第一放置孔同軸心；擋盤轉動設置在機殼內，位于樣品盤和進樣孔盤之間，擋盤具有限位通孔，限位通孔由相通的第一弧形孔和第一通孔組成，第一弧形孔的孔徑小于第一放置孔的直徑，第一通孔的直徑大于第一放置孔的直徑；樣品桿升降設置在機殼內，樣品桿升起后穿過第二放置孔、限位通孔進入第一放置孔內。通過上述技術方案，解決了現有技術中頂空進樣器不能自動均勻加熱頂空瓶的問題。

技術領域

本發(fā)明涉及頂空進樣器技術領域，具體的，涉及一種全自動頂空進樣器。

背景技術

頂空進樣器是氣相色譜法中一種方便快捷的樣品前處理方法，其原理是將待測樣品置入一密閉的容器中，通過加熱升溫使揮發(fā)性組分從樣品基體中揮發(fā)出來，在氣液（或氣固）兩相中達到平衡，直接抽取頂部氣體進行色譜分析，從而檢驗樣品中揮發(fā)性組分的成分和含量。使用頂空進樣技術可以免除冗長繁瑣的樣品前處理過程，避免有機溶劑對分析造成的干擾、減少對色譜柱及進樣口的污染。由于在取樣分析時，樣品瓶頂空中的揮發(fā)物處于與液體或固體中的相同化合物平衡的狀態(tài)，頂空進樣又稱之為“靜態(tài)頂空”。該方法可以不經過其它前處理技術直接測定水樣、固態(tài)基質中的揮發(fā)性物質，免除了萃取等前處理過程對操作者帶來的有機物污染，同時消除了基體干擾，提高了測定靈敏度，在環(huán)境監(jiān)測、制藥工程、交通執(zhí)法中有著廣泛的應用。

現有的頂空進樣器常用的一種進樣方式是把樣品環(huán)和進樣針集成到六通閥上，通過進樣針取樣，之后再通過進樣針將樣品排入到氣相色譜儀中。此種方式中，進樣針和針座是通過密封圈來密封，長期處于高壓下，對密封性的要求很高，長時間使用會導致密封磨損，樣品泄漏，影響檢測結果。此外，現有的頂空進樣器依然存在自動化程度低、樣品加熱不均等問題，因此需要對現有的頂空進樣器進行改進，以解決上述問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明提出一種全自動頂空進樣器，解決了現有技術中頂空進樣器不能自動均勻加熱頂空瓶的問題。

本發(fā)明的技術方案如下：

一種全自動頂空進樣器，包括，

機殼，

樣品盤，轉動設置在所述機殼上，具有若干個第一放置孔，

加熱箱，設置在所述機殼內，位于所述樣品盤下方，

進樣孔盤，轉動設置在所述加熱箱內，所述進樣孔盤具有若干個第二放置孔，其中一個所述第二放置孔與其中一個所述第一放置孔同軸心，

擋盤，轉動設置在所述機殼內，位于所述樣品盤和所述進樣孔盤之間，所述擋盤具有限位通孔，所述限位通孔由相通的第一弧形孔和第一通孔組成，所述第一弧形孔的孔徑小于所述第一放置孔的直徑，所述第一通孔的直徑大于所述第一放置孔的直徑，

樣品桿，升降設置在所述機殼內，所述樣品桿升起后穿過所述第二放置孔、所述限位通孔進入所述第一放置孔內。

作為進一步的技術方案，還包括，

導向套，設置在所述機殼內部，位于所述擋盤和所述進樣孔盤之間，所述擋盤轉動后，所述第一放置孔、所述限位通孔、所述第二放置孔連通或取消連通。

作為進一步的技術方案，還包括，

限位套，設置在所述機殼內部，位于所述導向套對側，所述限位套與其中一個所述第二放置孔相通，

頂桿，升降設置在所述機殼內，位于所述樣品桿對側，所述頂桿上升后穿過其中一個所述第二放置孔進入所述限位套內部，

進樣管，連接在所述限位套頂部。

作為進一步的技術方案，還包括，