[發明專利]一種波形測量方法

在審

• 申請號: 201911098085.0
• 申請日: 2019-11-12
• 公開（公告）號: CN110806501A
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 黃悅揚;毛國梁
• 申請（專利權）人: 南京宏泰半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R13/00
• 分類號: G01R13/00
• 代理公司: 北京挺立專利事務所(普通合伙) 11265
• 代理人: 石磊

本發明公開了一種波形測量方法，將待測波形先通過兩個比較器轉換為兩個對應的方波，當硬件邏輯器件接收到來自上位機軟件發出的開始采集波形的信號后，采集所述兩個方波，同時啟動計數器，以固定高頻率時鐘計數，出現波形翻轉時，若計數值小于設定的濾波值，則將該波形濾除，若計數值大于設定的濾波值，則硬件邏輯器件保存當時的波形和計數值，并將計數器清零，然后判斷波形翻轉次數是否達到設定值，若沒達到，則重新計數，若達到，則停止波形的采集，然后通過上位機軟件讀取硬件邏輯器件保存的波形和計數值，并進行優化，根據測試需要，送入對應的算法，輸出計算結果，提高了測量的準確性和精確度，提高了測量方法的靈活度。

技術領域

本發明涉及電子技術領域，尤其涉及一種波形測量方法。

背景技術

目前，波形測量的現有技術是提供多個測量檔位及測量功能模式的選擇。使用者需根據待測信號的頻率周期以及需要的測量項目，自行選擇測量。如測量檔位包括1K，10K，100K，1M等，測量功能模式包括頻率，周期，占空比，上/下降沿時間，信號間間隔時間等。當測量周期較長的信號時，會丟失該信號的部分高頻信息；對于周期內頻率不固定的波形無法準確識別和測量；無法穩定測量占空比極低的信號，使測量結果不精確可靠，并且數據處理的靈活度不足。

發明內容

本發明的目的在于提供一種波形測量方法，提高測量結果的精確度和準確度，增加數據處理的靈活度。

為實現上述目的，本發明提供了一種波形測量方法，包括：

接收上位機軟件發出的開始采集波形信號進行波形采集；

啟動計數器，以固定高頻率時鐘計數；

出現波形翻轉，判斷計數值是否大于設定的濾波值；

判斷波形翻轉次數是否達到設定值；

通過上位機軟件讀取波形，輸出測量結果。

其中，所述上位機軟件發出的開始采集波形信號時，所述方法包括：

將待測波形輸入第一比較器和第二比較器，轉換為兩個對應的方波，將所述轉換后的方波傳輸至硬件邏輯器件。

其中，所述判斷計數值是否大于設定的濾波值，包括：

若計數值小于設定的濾波值，則該波形為無效波形，被濾除；

若計數值大于設定的濾波值，則硬件邏輯器件保存當時的波形狀態和對應的計數值，并將計數器清零。

其中，所述判斷波形翻轉次數是否達到設定值，包括：

若波形翻轉次數未達到設定值，則計數器重新計數；

若波形翻轉次數達到設定值，則硬件邏輯器件停止波形的采集。

其中，所述硬件邏輯器件停止波形的采集后，所述方法還包括：

通過上位機軟件讀取所述硬件邏輯器件保存的波形狀態和計數值，并進行優化。

其中，所述輸出測量結果前，所述方法還包括：

以第一比較器從第一狀態到第二狀態為開始，至其下一個第一狀態到第二狀態為一個周期，計算周期內的維持時間之和得到波形周期參數。

其中，所述輸出測量結果前，所述方法還包括：：

在第一比較器為第一狀態，第二比較器為第二狀態，且第一比較器在前一個狀態為第二狀態時，獲取對應狀態的維持時間為波形上升沿時間參數。

其中，所述輸出測量結果前，所述方法還包括：：

在第一比較器為第一狀態，第二比較器為第二狀態，且第一比較器在前的一個狀態為第一狀態時，獲取對應狀態的維持時間為波形下升沿時間參數。