[發明專利]一種太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法在審
| 申請號： | 202210768583.7 | 申請日： | 2022-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN115169103A | 公開（公告）日： | 2022-10-11 |
| 發明（設計）人： | 李興冀;應濤;張彬;楊劍群;李偉奇 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G06F30/20 | 分類號： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知識產權代理有限公司 11473 | 代理人： | 尹澤民 |
| 地址： | 150000 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 太陽能電池 輻照 損傷 模擬 計算方法 | ||
1.一種太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟S1、測量太陽能電池的厚度，并確認其材料屬性；
步驟S2、構建所述太陽能電池的結構模型，將所述結構模型簡化為具有若干個平行平板的層狀結構；
步驟S3、通過蒙特卡羅方法，使用空間輻照粒子照射所述結構模型，并通過積分計算所述層狀結構中每層的位移吸收能量。
2.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述步驟S1中，所述太陽能電池的材料屬性包括Si、GaAs或InP。
3.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述步驟S2中，將所述結構模型簡化為具有1-100個平行平板的層狀結構。
4.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述步驟S3中，在Geant4環境中，通過蒙特卡羅方法，使用空間輻照粒子照射所述結構模型，并通過積分計算所述層狀結構中每層的位移吸收劑量。
5.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述步驟S3中，所述空間輻照粒子包括質子、電子、中子或光子。
6.根據權利要求5所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述質子的能量為1-100MeV。
7.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述電子的能量為1-100MeV。
8.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，所述步驟S3中，通過對一定長度上阻止本領進行積分計算，得到所述空間輻照粒子在該路徑上損失的能量。
9.根據權利要求1所述的太陽能電池輻照損傷的模擬計算方法，其特征在于，在所述步驟S3之后還包括：
步驟S4、分析經過所述空間輻照粒子照射后的所述電池結構模型產生的位移吸收劑量隨深度變化的趨勢。
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