[發明專利]一種基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法

在審

• 申請號: 202210766697.8
• 申請日: 2022-06-30
• 公開（公告）號: CN115015307A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 陳云霞;蘇寧;劉振華;鄭君;王聰;顧凌郡;于紅梅;劉光興;張凌霄;劉佳媛;趙子俊;張濤;徐新宇;徐媛媛;林詩雯;蘇冠群
• 申請（專利權）人: 中檢科（北京）化妝品技術有限公司;江蘇京東旭科信息技術有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京成越律師事務所 16070
• 代理人: 蔡艷園

本發明公開了一種基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法，包括如下步驟：(1)取樣及上樣，設置儀器參數，樣品通過X射線照射，得到XRF指紋圖譜；(2)建立化妝品標準樣品XRF指紋圖譜數據庫；(3)待測樣品與標準品XRF指紋圖譜相似度分析，包括全元素XRF光譜相似度分析、背景散射譜圖相似度分析和XRF綜合相似度分析；(4)待測樣品與標準品XRF一致性分析。本發明方法鑒定結果準確、快速，耗時少成本低，特別適用于口岸及市場現場監管要求的快速鑒定場景。

技術領域

本發明涉及化妝品領域，特別是涉及一種基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法。

背景技術

隨著線上電商平臺的快速發展，化妝品的售賣渠道越來越多，電商平臺對化妝品的真偽品質把控也越來越重視，對檢測效率和準確性有著非常高的要求，為防止假品劣品流通進入市場，需要在產品入倉前進行快速鑒別。當前的技術手段的一致性鑒別方法手段不完善，檢測周期較長，且需將樣品寄送至實驗室，必須在實驗室內進行，不能很好的解決商家入倉前鑒定的問題。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法。

本發明通過XRF掃描的譜圖的分析的能夠快速便捷的對化妝品進行假品劣品的鑒定。規避了檢測周期長，繁瑣，檢測環境要求高等缺點，可實時幫助商家進行假品劣品的質量管控。

本發明方法是基于化妝品的配方體系及產品相關特性，結合XRF的分析手段，通過數學統計算法計算，建立化妝品一致性品質的多維度分析方法。

一種基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法，包括如下步驟：

(1)取樣及上樣，設置儀器參數，樣品通過X射線照射，得到XRF指紋圖譜；

(2)建立化妝品標準樣品XRF指紋圖譜數據庫；

(3)待測樣品與標準品XRF指紋圖譜相似度分析，包括全元素XRF光譜相似度分析、背景散射譜圖相似度分析和XRF綜合相似度分析；

(4)待測樣品與標準品XRF一致性分析。

本發明所述的基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法，其中，步驟(1) 中取樣及上樣過程包括：將測試膜固定于XRF樣品杯的底部，用樣品杯箍環箍住；

當化妝品為固體樣品時，在樣品杯內部測試膜上均勻涂上一層化妝品樣品能夠完全覆蓋住所述測試膜；

當化妝品為水劑及乳液類時，直接裝入一層化妝品樣品完全覆蓋注樣品膜，備用。

本發明所述的基于X射線熒光光譜的化妝品一致性快速篩查的方法，其中：