[發(fā)明專利]一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210726559.7
• 申請(qǐng)日: 2022-06-24
• 公開（公告）號(hào): CN115165644A
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃磊;劉德強(qiáng);彭琪;任曙彪;黃露露;張更勤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 興科電子（東莞）有限公司
• 主分類號(hào): G01N3/46
• 分類號(hào): G01N3/46;G01N3/02;G01M13/00
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 趙菲

本發(fā)明屬于硅膠按鍵測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，具體的說是一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置，包括底座，所述底座頂部固定連接有圓臺(tái)，所述圓臺(tái)的頂部活動(dòng)套接有測(cè)試臺(tái)，所述測(cè)試臺(tái)內(nèi)側(cè)頂部圓心處固定連接有定位桿，所述定位桿的底部活動(dòng)插接在圓臺(tái)的頂部。在對(duì)硅膠按鍵進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，多個(gè)第一壓桿能夠配合第二壓桿對(duì)硅膠按鍵的一條直徑進(jìn)行覆蓋，因此在對(duì)硅膠按鍵進(jìn)行一次測(cè)試時(shí)，即可完成對(duì)硅膠按鍵頂部多點(diǎn)的同時(shí)檢測(cè)，另外，由于測(cè)試臺(tái)在完成一側(cè)檢測(cè)后，V形凸起能夠配合撥桿使轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)硅膠按鍵自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)一定角度，從而當(dāng)測(cè)試臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)一周后，即可完成對(duì)硅膠按鍵頂部的全面檢測(cè)，進(jìn)而使得對(duì)硅膠按鍵表面的測(cè)試更加均勻。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于硅膠按鍵測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

智能音響成為了新一代音響的代表之一，其具備與無線設(shè)備、用戶之間進(jìn)行溝通，因此，音響需要具備一定數(shù)量的按鍵才方便進(jìn)行控制。目前市場上的音響按鍵大致分為塑料按鍵和硅膠按鍵，其中相對(duì)于塑膠按鍵而言，硅膠按鍵具有聲音小、質(zhì)地較軟，回彈性能好、且在按壓時(shí)不會(huì)與音響產(chǎn)生共振，進(jìn)而不會(huì)對(duì)音響的音質(zhì)造成點(diǎn)影響。此外，硅膠按鍵與殼體之間基本不會(huì)存在間隙，從而避免了灰塵進(jìn)入音響內(nèi)，因此硅膠按鍵更受到大家的歡迎。

現(xiàn)有的硅膠按鍵在生產(chǎn)出來，為了保證硅膠按鍵的質(zhì)量，一般需要對(duì)硅膠按鍵進(jìn)行高低溫測(cè)試、刮痕測(cè)試以及水煮測(cè)試，其中，在對(duì)硅膠按鍵進(jìn)行刮痕測(cè)試時(shí)，由于現(xiàn)有的刮痕測(cè)試裝置只有一個(gè)測(cè)試頭，且測(cè)試頭的落點(diǎn)固定，這就導(dǎo)致不能對(duì)硅膠按鍵的整體表面進(jìn)行更加均衡的刮痕測(cè)試，此外由于硅膠按鍵的頂部呈弧形，因此當(dāng)硅膠按鍵擺放位置不正時(shí)，硅膠按鍵容易跑偏，從而導(dǎo)致測(cè)試頭不能準(zhǔn)確地對(duì)硅膠按鍵進(jìn)行刮痕測(cè)試。

因此，發(fā)明一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置來解決上述問題很有必要。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)上述問題，本發(fā)明提供了一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種一體式硅膠類隱性光圈音響按鍵用測(cè)試裝置，包括底座，所述底座頂部固定連接有圓臺(tái)，所述圓臺(tái)的頂部活動(dòng)套接有測(cè)試臺(tái)，所述測(cè)試臺(tái)內(nèi)側(cè)頂部圓心處固定連接有定位桿，所述定位桿的底部活動(dòng)插接在圓臺(tái)的頂部，所述測(cè)試臺(tái)內(nèi)壁與圓臺(tái)之間設(shè)有多個(gè)調(diào)節(jié)裝置，所述測(cè)試臺(tái)的底部轉(zhuǎn)動(dòng)連接有磁環(huán)，所述磁環(huán)底部與底座頂部之間固定連接有多個(gè)伸縮桿，且伸縮桿上套接有第一彈簧，所述測(cè)試臺(tái)的頂部設(shè)有測(cè)試裝置。

進(jìn)一步的，所述調(diào)節(jié)裝置包括V形凸起，所述V形凸起與圓臺(tái)的側(cè)壁固定連接，且多個(gè)所述V形凸起關(guān)于圓臺(tái)的圓心旋轉(zhuǎn)對(duì)稱，所述V形凸起的開口朝上，且V形凸起包括垂直邊和傾斜邊，所述V形凸起的垂直邊與底座垂直，且V形凸起垂直邊的頂部低于傾斜邊的頂部，且相鄰的傾斜邊的頂端與垂直邊的內(nèi)側(cè)齊平，所述V形凸起遠(yuǎn)離圓臺(tái)的一側(cè)設(shè)有直桿，所述直桿與測(cè)試臺(tái)的內(nèi)壁垂直固定連接，所述直桿的正底部設(shè)有撥桿，所述撥桿過扭力彈簧與測(cè)試臺(tái)的內(nèi)壁鉸接，所述撥桿自然狀態(tài)下與直桿保持平行，且撥桿只能向上偏轉(zhuǎn)，所述撥桿自然狀態(tài)下的高度高于V形凸起傾斜邊的高度，且撥桿與直桿間的垂直距離大于V形凸起傾斜邊的厚度，所述撥桿的直徑小于相鄰的傾斜邊與垂直邊間的距離。