[發明專利]一種高爐炭磚內部缺陷的檢測方法在審
| 申請號: | 202210701728.1 | 申請日: | 2022-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN115096919A | 公開(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發明(設計)人: | 王悅;鄒祖橋;賈麗暉 | 申請(專利權)人: | 武漢鋼鐵有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04;G06T5/00;G06T5/10;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/194 |
| 代理公司: | 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570 | 代理人: | 甄偉軍 |
| 地址: | 430080 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高爐 內部 缺陷 檢測 方法 | ||
1.一種高爐炭磚內部缺陷的檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
對高爐炭磚進行X射線成像,獲取X射線圖像,并對所述X射線圖像進行圖像增強和圖像去噪;
檢測所述X射線圖像中的內部缺陷,并標記各個內部缺陷;
根據不同類型內部缺陷的特征,對各個內部缺陷進行缺陷類別的識別和判定,以完成高爐炭磚的檢測。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對高爐炭磚進行X射線成像,獲取X射線圖像,包括:
對高爐炭磚進行X射線成像,獲取初始X射線圖像;
對所述初始X射線圖像進行炭磚位置識別,剔除多余背景圖像,生成X射線圖像。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對所述初始X射線圖像進行炭磚位置識別,剔除多余背景圖像,包括:
根據所述初始X射線圖像中不同區域的灰度值差別,進行炭磚位置識別,確定所述高爐炭磚所在的目標區域;
確定圖像背景和所述目標區域的相交邊界;
沿所述相交邊界進行圖像剪切,完成多余背景圖像的剔除。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述確定圖像背景和所述目標區域的相交邊界,包括:
通過Canny算子邊緣檢測算法確定圖像背景和所述目標區域的相交邊界。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述X射線圖像進行圖像增強和圖像去噪,包括:
對所述X射線圖像進行灰度調整,以完成圖像增強;
再對所述X射線圖像的灰度進行對數變換以及小波分解,消除所述X射線圖像的灰度不均勻點,以完成圖像去噪。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述對所述X射線圖像進行灰度調整,以完成圖像增強,包括:
采用直方圖均衡化對所述X射線圖像進行灰度調整,以完成圖像增強。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述檢測所述X射線圖像中的內部缺陷,并標記各個內部缺陷,包括:
根據所述X射線圖像中的內部缺陷的灰度特征,確定各個內部缺陷的邊緣;
基于各個內部缺陷的邊緣,確定各個內部缺陷的所在位置,并標記各個內部缺陷。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據不同類型內部缺陷的特征,對各個內部缺陷進行缺陷類別的識別和判定,包括:
識別所述X射線圖像中的呈面狀的內部缺陷,并判定為氣孔、疏松、夾渣等缺陷類別;
識別所述X射線圖像中的呈線狀的內部缺陷,并判定為對于裂紋、縫隙等缺陷類別。
9.一種高爐炭磚的檢測裝置,其特征在于,所述裝置包括:
成像單元,被用于對高爐炭磚進行X射線成像,獲取X射線圖像,并對所述X射線圖像進行圖像增強和圖像去噪;
檢測單元,被用于檢測所述X射線圖像中的內部缺陷,并標記各個內部缺陷;
識別單元,被用于根據不同類型內部缺陷的特征,對各個內部缺陷進行缺陷類別的識別和判定,以完成高爐炭磚的檢測。
10.一種計算機設備,其特征在于,所述計算機設備包括一個或多個處理器和一個或多個存儲器,所述一個或多個存儲器中存儲有至少一條程序代碼,所述至少一條程序代碼由所述一個或多個處理器加載并執行以實現如權利要求1至8任一項所述的高爐炭磚內部缺陷的檢測方法所執行的操作。
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