[發明專利]基于參考光路總強度排序的鬼成像優化方法

在審

• 申請號: 202210701717.3
• 申請日: 2022-06-20
• 公開（公告）號: CN115097414A
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發明（設計）人: 王肖霞;楊風暴;習江濤
• 申請（專利權）人: 中北大學
• 主分類號: G01S7/48
• 分類號: G01S7/48;G01S7/4913;G01S17/89;G01J1/02;G01J1/18;G06T11/00
• 代理公司: 太原科衛專利事務所(普通合伙) 14100
• 代理人: 朱源

1.基于參考光路總強度排序的鬼成像優化方法，其特征在于：包括以下步驟：

1)生成M束序列散斑圖案這里i＝1,2,L,M；

2)利用步驟1)中生成的序列散斑圖案照射被照物體區域，利用桶探測器對被照物體區域透射的總強度值進行測量，獲得序列桶探測器值這里i＝1,2,L,M；

3)計算1)中每束序列散斑圖案的總光強進而獲得散斑圖案總光強的平均值S_R，并以升序方式對M束序列散斑圖案的總光強值進行排序，使相鄰散斑圖間的差異性降低；

4)將排序以后的M束序列散斑圖案總光強值劃分成三個區域，即左邊區域(S_Rmin,S_RN)、均值附近區域(S_RN,S_RP)以及右邊區域(S_RP,S_Rmax)，S_RN,S_RP表示閾值，S_Rmin表示排序后得到的總光強最小值，S_Rmax表示排序后得到的總光強最大值；

5)依據步驟4)的劃分依據，左邊區域(S_Rmin,S_RN)范圍中的序列散斑圖案劃分到子集{P_R1}，均值附近區域(S_RN,S_RP)范圍中的序列散斑圖案劃分到子集{P_R2}，右邊區域(S_RP,S_Rmax)范圍中的序列散斑圖案劃分到子集{P_R3}，重新將相應的散斑圖案劃分為三個子集：{P_R1},{P_R2},{P_R3}；再依據散斑圖案的三個子集將桶探測器值分為三個子集：{B_R1},{B_R2},{B_R3}；

6)利用鬼成像方法對新獲得的散斑圖案子集{P_Rj}和桶探測器值序列{B_Rj}進行關聯運算，以獲得鬼像，此時，j＝1,2,3。

2.根據權利要求1所述的基于參考光路總強度排序的鬼成像優化方法，其特征在于：通過散斑圖案子集子集{P_Rj}、桶探測器均值篩選的子集{P_Bj}聯合篩選進一步降低數據冗余，提高成像質，篩選公式為：mode-1:I_c＝P_R2-P_R2|P_RB2，mode-2:I_c＝(P_R1+P_R2)-P_RB2，mode-3:I_c＝(P_R1+P_R2)-P_RB2∪P_R2，其中，I_c是在對散斑圖案總光強篩選后的散斑序列進行相關運算得到的散斑序列；P_RBj是根據P_Bj排序得到的散斑圖案。

3.根據權利要求1或2所述的基于參考光路總強度排序的鬼成像優化方法，其特征在于：通過確定比例劃分參數來確定閾值，先設定一個比例劃分參數其中M代表總的散斑圖案數量，M'代表從M中篩選出來的散斑圖案數量，根據M'確定S_RN、S_RP，劃分參數取0.8-0.9時，成像效果最好。